[發明專利]帶寬壓縮中的后選擇預測方法

有效

• 申請號: 201811260604.4
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN109510996B
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 張瑩;羅瑜
• 申請（專利權）人: 西安科銳盛創新科技有限公司
• 主分類號: H04N19/59
• 分類號: H04N19/59;H04N19/176;H04N19/13
• 代理公司: 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230
• 代理人: 王海棟

1.一種帶寬壓縮中的后選擇預測方法，其特征在于，包括：

將圖像分成大小為m×n的多個MB；其中，m、n分別為每個所述MB的行分辨率、列分辨率；

分別采用自適應模板預測方法與自適應紋理漸變預測方法對所述多個MB進行預測以獲取對應的殘差主觀和；

根據所述殘差主觀和確定所述多個MB最終的預測殘差；其中，

所述分別采用自適應模板預測方法與自適應紋理漸變預測方法對所述多個MB進行預測以獲取對應的殘差主觀和，包括：

采用自適應模板預測方法對所述多個MB進行預測以獲取第一殘差主觀和，包括：

采用自適應模板預測方法對當前MB進行預測以獲取當前MB中每個像素的第一預測殘差；

根據所述當前MB中每個像素的第一預測殘差分別計算當前MB的第一殘差絕對值和與第一殘差標準差；

根據所述第一殘差絕對值和與第一殘差標準差計算所述第一殘差主觀和；其中，

所述采用自適應模板預測方法對當前MB進行預測以獲取當前MB中每個像素的第一預測殘差，包括：

確定所述自適應模板的表位數量以及表位序號；

初始化填充所述自適應模板；

更新所述當前MB對應的自適應模板；

根據更新后的所述自適應模板獲取所述當前MB中每個像素的第一預測殘差；

所述采用自適應紋理漸變預測方法對所述多個MB進行預測以獲取第二殘差主觀和，包括：

采用自適應紋理漸變預測方法對所述當前MB進行預測以獲取所述當前MB中每個像素的第二預測殘差；

根據所述當前MB中每個像素的第二預測殘差分別計算當前MB的第二殘差絕對值和與第二殘差標準差；其中，

殘差絕對值和SAD的計算公式如下：

所述第一殘差標準差和第二殘差標準差的計算公式為：

其中，k的取值為1或2，用于分別表示自適應模板預測方法與自適應紋理漸變預測方法，SAD₁為第一殘差絕對值和，SAD₂為第二殘差絕對值和，E₁為第一預測殘差標準差，E₂為第二預測殘差標準差，Res_{1_i}為采用自適應模板預測方法預測時當前MB中第i像素分量的預測殘差，Res_{2_i}為采用自適應紋理漸變預測方法預測時當前MB中第i像素分量的預測殘差，ABS為絕對值運算，AVE₁為采用自適應模板預測方法對當前MB進行預測時所有像素分量的預測殘差均值，AVE₂為采用自適應紋理漸變預測方法對當前MB進行預測時所有像素分量的預測殘差均值，AVE₁與AVE₂的計算公式如下：

根據所述第二殘差絕對值和與第二殘差標準差計算所述第二殘差主觀和；其中，

所述采用自適應紋理漸變預測方法對所述當前MB進行預測以獲取所述當前MB中每個像素的第二預測殘差，包括：

確定所述當前MB的采樣點；

根據所述采樣點對所述當前MB進行預測以獲取所述當前MB中每個像素的第二預測殘差；

所述第一殘差主觀和與第二殘差主觀和的計算公式為：

SUBD_k＝a₁×SAD_k+a₂×E_k+a₃×mode_k

其中，k為預測模式的序號，取值為1或2；

SUBD₁為第一殘差主觀和，SUBD₂為第二殘差主觀和；

a₁、a₂及a₃為按場景配置的權重系數；

SAD₁為當前MB中所有像素的第一殘差絕對值和，SAD₂為當前MB中所有像素的第二殘差絕對值和；

E₁為當前MB中所有像素的第一殘差標準差，E₂為當前MB中所有像素的第二殘差標準差；

mode1與mode2為自適應模板預測方法與自適應紋理漸變預測方法分別對應的模式懲罰；

所述根據所述殘差主觀和確定最終的預測殘差，包括：

比較所述第一殘差主觀和與第二殘差主觀和的大小以選擇最終的預測殘差；其中，

若所述第一殘差主觀和小于所述第二殘差主觀和，則選擇所述第一預測殘差作為所述當前MB中每個像素的最終預測殘差；

若所述第一殘差主觀和大于所述第二殘差主觀和，則選擇所述第二預測殘差作為所述當前MB中每個像素的最終預測殘差。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，確定所述當前MB的采樣點，包括：

將所述當前MB的當前像素分量的像素值與所述當前像素分量相鄰的像素分量的像素值求差獲取所述當前MB的像素差值；

將所述像素差值中的連續值的最后一位設定為像素值拐點；

設定所述像素值拐點所對應的所述當前MB的像素分量為所述當前MB的采樣點。