[發明專利]一種用于檢測胰腺腫瘤良惡性程度的分級模型及其應用在審
| 申請號: | 201811259835.3 | 申請日: | 2018-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN111100930A | 公開(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發明(設計)人: | 成彤;周寧 | 申請(專利權)人: | 立森印跡診斷技術(無錫)有限公司 |
| 主分類號: | C12Q1/6886 | 分類號: | C12Q1/6886 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 鞏克棟 |
| 地址: | 214135 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 檢測 胰腺 腫瘤 惡性 程度 分級 模型 及其 應用 | ||
本發明涉及一種用于檢測胰腺腫瘤的分級模型及其應用,所述模型通過計算印記基因缺失表達量、印記基因拷貝數異常表達量和印記基因總表達量對印記基因在胰腺腫瘤中的變化進行分級。本發明所述檢測模型和裝置,以直觀的方法表現了印記缺失在胰腺腫瘤病人的組織和細胞樣本上的表現,通過對印記基因原位標記的方法,客觀、直觀、早期、精確地檢測出印記(跡)基因的變化,并可以提供量化的模型,為胰腺腫瘤的診斷做出巨大貢獻。
技術領域
本發明涉及生物技術領域,涉及基因診斷領域,涉及一種分級模型及其應用,涉及一種用于檢測胰腺腫瘤良惡性程度的分級模型及其應用,具體涉及一組印記基因在檢測胰腺腫瘤良惡性程度中的分級模型及其組成的裝置。
背景技術
胰腺癌是一種惡性程度很高的惡性腫瘤,5年生存率不到5%,是進展最快、預后最差的惡性腫瘤之一。每年全世界約有33.8萬人被診斷為胰腺癌,死亡33.0萬,中國每年新增病例6.6萬,死亡6.4萬,并且其發病率還在逐年增長。
胰腺癌的早期診斷存在較多的困難,80%的胰腺癌患者在就診時已經是晚期,無法進行手術。早期胰腺癌的癥狀與胰腺炎相似,不具有典型性,通常容易被患者忽略。由于胰腺的特殊解剖位置,給超聲檢查帶來困難,同時胰腺也不具有直接通向體外的管道,無法通過內鏡進行檢查。目前的胰腺癌腫瘤標志物還存在敏感度和特異性低的問題。因此亟需一種更靈敏、更準確的檢測手段以提高胰腺癌的早期診斷率。
傳統病理學對細胞的良惡性診斷是基于細胞的大小,形態,浸潤性和周邊細胞組織的關系來作出判斷的。它對細胞(癌癥)的早期變化的發現有很大的局限性,因此細胞分子水平的癌癥診斷方法,一度成為研究熱點。隨著人們在分子生物學領域的不斷深入研究,越來越多的分子檢測技術被運用到癌癥診斷中。
癌癥的產生是隨時間推移而累積的表觀遺傳改變和基因上的變異所導致的不受控制的細胞生長/分裂。傳統病理學診斷根據細胞和組織的大小,形態和結構上的變異,從而做出胰腺腫瘤良惡性判斷。隨著分子生物學的發展與深入,越來越多的分子檢測技術被應用于胰腺癌癥的檢測。從癌癥的發展過程分析,分子層面的改變(表觀遺傳學和基因學)遠早于細胞形態和組織結構的變異。所以分子生物學檢測對癌癥早期的檢測更敏感。
基因組印記是表觀遺傳學中基因調控的一種方式。其特點是,通過甲基化來自特定親代的等位基因,使某個基因只有一個等位基因表達,而另一個則陷入基因沉默狀態。該種類的基因,被稱為印跡(記)基因。印跡缺失是印跡基因去甲基化導致沉默狀態的等位基因被激活并且開始基因表達的一種表觀遺傳改變。大量研究表明,該現象(印跡缺失)普遍存在于各類癌癥并且發生時間早于細胞和組織形態改變。與此同時,在健康細胞中,印跡缺失比例極低,與癌細胞成鮮明對比。所以,印跡基因的甲基化狀態可以作為病理標記,通過特定分子檢測技術,對細胞異常狀態進行分析。
基于上述原因,目前的胰腺癌診斷需要新的檢測系統和檢測模型,基于患者活檢樣本,解析胰腺癌在細胞層面上存在的分子標記物變化,以此提供更精確的預診和診斷信息。
發明內容
針對現有技術的不足及實際的需求,本發明提供了一種用于檢測胰腺腫瘤良惡性程度的分級模型及其應用,該檢測裝置和模型是用于單細胞和組織水平下早期直觀地觀察胰腺腫瘤的印記(跡)基因的變化從而判斷胰腺腫瘤的良惡性程度。
為達到上述目的,本發明采用以下技術方案:
第一方面,本發明提供了一種用于胰腺腫瘤的印記基因分級模型,所述模型通過計算印記基因的總表達量、印記基因缺失表達量和印記基因拷貝數異常表達量在胰腺癌中的變化對印記基因的表達狀態進行分級;
其中,所述印記基因為Z1、Z5、Z10、Z11或Z16中的任意一個或至少兩個的組合,所述印記基因Z1為Gnas,所述印記基因Z5為Mest,所述印記基因Z10為Gatm,所述印記基因Z11為Grb10,所述印記基因Z16為Snrpn/Snurf。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于立森印跡診斷技術(無錫)有限公司,未經立森印跡診斷技術(無錫)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811259835.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





