[發明專利]分析裝置

有效

• 申請號: 201811258356.X
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN109725043B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 山本明廣;志智直人
• 申請（專利權）人: 愛科來株式會社
• 主分類號: G01N27/447
• 分類號: G01N27/447
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 張永玉

1.一種分析裝置，包括：

導入部，包含試樣的分析工具被導入到所述導入部；

設置部，在所述導入部中所述分析工具被放置于所述設置部；

對置壁，設置在所述設置部的上方，從上表面到下表面設置有插通孔；

支柱，從所述對置壁朝向上方豎立設置；

對置板，形成在所述支柱的頂端；

限制板，由所述支柱引導并且能夠在所述對置壁與所述對置板之間上下移動；

彈簧，設置在所述限制板與所述對置板之間，對所述限制板施加向下的力，以保持所述限制板與所述對置壁接觸的狀態；

照射部件，以從所述限制板向下方延伸的方式安裝于所述限制板，并向所述試樣照射光；

驅動機構，使所述對置壁向下方移動，以使得從所述對置壁突出的所述照射部件的頂端與形成于所述分析工具的插入孔的底部接觸；以及

測定部件，所述測定部件通過從所述照射部件向放置于所述設置部的所述分析工具的所述試樣照射的光，來測定所述試樣的成分，

所述照射部件被插入到所述對置壁的所述插通孔并從所述對置壁向下方突出。

2.根據權利要求1所述的分析裝置，其中，

在將所述照射部件插入到所述插入孔的狀態下，通過所述對置壁推壓所述分析工具。

3.根據權利要求1或2所述的分析裝置，其中，

所述對置壁接近所述分析工具的方向與所述照射部件的朝向所述分析工具的接近方向是相同方向。

4.根據權利要求3所述的分析裝置，其中，

所述照射部件具有突出部，所述突出部被保持為能夠相對于所述對置壁進退，

所述限制板將所述突出部的朝向所述分析工具的突出量限制在一定范圍內，

所述彈簧將所述突出部向從所述對置壁的突出方向偏置。

5.根據權利要求4所述的分析裝置，其中，

所述突出部被插入到所述分析工具的插入孔，所述突出部的突出長度的最大值大于所述插入孔的深度。

6.根據權利要求4所述的分析裝置，其中，

所述突出部被插通到所述插通孔。

7.根據權利要求6所述的分析裝置，其中，

所述限制板在所述突出部從所述對置壁突出的一側的相反側被安裝于所述突出部，并且比所述插通孔的孔徑更寬，

所述對置壁和所述對置板是在所述突出部的進退方向的兩側與所述限制板對置的一對對置部件。

8.根據權利要求1或2所述的分析裝置，還包括：

定位部件，所述定位部件將所述分析工具定位到所述設置部上的預定位置，

所述對置壁保持通過所述定位部件定位的所述分析工具。

9.根據權利要求1或2所述的分析裝置，其中，

所述分析工具包括：

基片，具備所述試樣在其中泳動的毛細管；以及

盒，具備液體槽且與所述基片重疊，

所述對置壁朝向所述基片與所述盒的重疊方向推壓所述分析工具并將所述分析工具夾在所述對置壁與所述設置部之間，并且使所述基片和所述盒嵌合。