[發明專利]一種晶體諧振器測試系統及校準方法

有效

• 申請號: 201811258294.2
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN109490663B
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 焦玉民;康焱;朱珠
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R35/00
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 馬驥;南霆

1.一種晶體諧振器測試系統校準方法，所述晶體諧振器測試系統包括頻率源、矢量電壓表、測試夾具和衰減器，所述頻率源和所述矢量電壓表各包括兩個輸出接口，所述輸出接口，用于連接外部標準儀器，進行參數校準，還用于連接測試夾具，形成測試回路；所述頻率源，用于產生兩路同頻同功率激勵信號，第一路信號通過所述頻率源第一接口輸出，與測試夾具第一接口連接，所述頻率源第二路信號通過第二接口輸出，與所述衰減器一端連接；所述衰減器用于衰減所述頻率源信號，另一端與所述矢量電壓表第一接口連接；所述矢量電壓表，用于測量所述測試夾具兩端矢量信號，所述矢量電壓表第二接口與所述測試夾具第二接口連接；所述測試夾具，用于連接待測晶體諧振器；其特征在于，所述方法包括以下步驟：

通過頻率源兩個輸出接口，對所述頻率源兩路激勵信號進行性能測試，獲得頻率和功率參數；

通過矢量電壓表兩個輸出接口，對所述矢量電壓表兩個輸出接口信號進行性能測試，獲得電壓和相位參數；

用計量后的所述頻率源和矢量電壓表，對所述衰減器進行性能測試；

理論修正所述測試夾具和連接線纜引起的測試誤差；

根據所述頻率和功率參數、電壓和相位參數、衰減器性能測試參數，以及所述測試夾具和連接線纜理論修正不完善引起的不確定度，分析系統不確定度，獲得系統計量特性。

2.如權利要求1所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，還包括上位機，所述上位機，用于采集、運算、分析和顯示晶體諧振器測試裝置數據參數，分別與所述頻率源和所述矢量電壓表連接。

3.如權利要求1所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，所述頻率源、矢量電壓表和衰減器，為集成結構或分立結構。

4.如權利要求2所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，所述上位機與所述晶體諧振器測試裝置，通過PCI控制卡或GPIB控制線連接。

5.如權利要求1-4任一所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，用于連接各儀器的線纜為低損耗、寬頻同軸屏蔽線，接頭為SMA。

6.如權利要求5所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，所述線纜選用銅質外導體、鍍銀銅質內導體，聚四氟乙烯介質材料，經相位測試修正后使用。

7.如權利要求1-4任一所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，對所述頻率源兩路激勵信號輸出進行性能測試，采用標準頻率表和功率表。

8.如權利要求1-4任一所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，對所述矢量電壓表兩個輸出接口信號進行性能測試，采用標準信號源及延遲線。

9.如權利要求1-4任一所述晶體諧振器測試系統校準方法，其特征在于，所述系統不確定度分析，選用國標推薦的零相位法或自動網絡分析技術和誤差校正法。