[發(fā)明專利]一種19.5nm多層膜反射鏡在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811258124.4 | 申請日: | 2018-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN109254338A | 公開(公告)日: | 2019-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王孝東;陳波;王海峰;劉陽 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號: | G02B5/08 | 分類號: | G02B5/08 |
| 代理公司: | 深圳市科進(jìn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 曹衛(wèi)良 |
| 地址: | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 交替疊加 半導(dǎo)體薄膜層 多層膜反射鏡 鉬薄膜層 基底 帽層 高能粒子輻照 太陽輻射 多層 | ||
本發(fā)明公開了一種19.5nm多層膜反射鏡,其包括:基底、交替疊加層、帽層,所述交替疊加層設(shè)置在所基底上,所述帽層設(shè)置在交替疊加層上;所述交替疊加層包括:半導(dǎo)體薄膜層以及與所述半導(dǎo)體薄膜層交替疊加設(shè)置的鉬薄膜層,所述半導(dǎo)體薄膜層與所述鉬薄膜層共交替疊加多層。本發(fā)明公開的19.5nm多層膜反射鏡具有耐高能粒子輻照和太陽輻射的優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光學(xué)薄膜技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種19.5nm多層膜反射鏡。
背景技術(shù)
理解日地環(huán)境和它對地球空間天氣和氣候的影響是現(xiàn)代科學(xué)探索的一個重要問題。太陽的耀斑、日冕物質(zhì)拋射等活動是影響地球空間天氣和氣候的重要因素。因此,人們對太陽輻射光譜中的極紫外光做了大量的成像研究。其中,鐵元素的Ⅻ譜線(波長19.5nm)是太陽光譜成像探測重要目標(biāo)之一,如SUVI,TXI,EIT和TRACE。他們在成像光學(xué)系統(tǒng)中都使用了正入射的Mo/Si多層膜。為了保證成像光譜的純凈,要求該多層膜既要在19.5nm有較高的正入射反射率,帶寬也要盡可能的小。受限于最小成膜物理厚度,上述型號中,使用的多層膜最窄帶寬是1nm,其中Mo在周期厚度中的最小比例為0.15,其中周期厚度是指單層鉬和硅的厚度和。同時,由于空間環(huán)境存在有大量的高能粒子(質(zhì)子、電子等)和太陽輻照等,要求制備的薄膜具有一定的穩(wěn)定性,即能抗高能粒子和太陽輻照。
我國正在研制的X-EUV太陽成像儀中也將對19.5nm譜線進(jìn)行成像探測。其中,正入射多層膜的反射率和帶寬要求與上述型號一樣。與上述型號不同的是我們還需要研制入射角度45°的多層膜,它也需要高反射率和窄帶寬,同時也要求具有良好的空間適應(yīng)性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
本發(fā)明提供了一種19.5nm多層膜反射鏡,所述19.5nm多層膜反射鏡包括:
基底、交替疊加層、帽層,所述交替疊加層設(shè)置在所基底上,所述帽層設(shè)置在交替疊加層上;所述交替疊加層包括:半導(dǎo)體薄膜層以及與所述半導(dǎo)體薄膜層交替疊加設(shè)置的鉬薄膜層,所述半導(dǎo)體薄膜層與所述鉬薄膜層共交替疊加多層。
在一些實(shí)施例中,所述半導(dǎo)體薄膜層的材料為硅、鍺、碳、碳化硼中的一種,所述半導(dǎo)體薄膜層使用直流電源鍍制而成。
在一些實(shí)施例中,所述帽層的材料為硅。
在一些實(shí)施例中,所述帽層外還設(shè)置有金屬銥薄膜層。
在一些實(shí)施例中,所述帽層厚度為7nm,所述金屬銥薄膜層的厚度為2nm。
在一些實(shí)施例中,所述基底的表面粗糙度為0.7nm。
在一些實(shí)施例中,所述交替疊加層的表面粗糙度為0.7nm,所述交替疊加層中所述半導(dǎo)體薄膜層與所述鉬薄膜層共交替疊加60層。
在一些實(shí)施例中,所述帽層的表面粗糙度為0.7nm。
在一些實(shí)施例中,所述基底的材料為微晶或熔石英。
在一些實(shí)施例中,所述鉬薄膜層占周期厚度的比例分別為0.15和0.11。
本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明實(shí)施例提供的一種19.5nm多層膜反射鏡,通過設(shè)置交替疊加層,使19.5nm多層膜反射鏡具有較高的反射率外,還具有較窄的帶寬,另外,該19.5nm多層膜反射鏡還包括帽層,該帽層能夠抗高能粒子和太陽輻照,使得制備的19.5nm多層膜反射鏡耐高能粒子輻照和太陽輻射。
附圖說明
圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的一種19.5nm多層膜反射鏡的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的19.5nm多層膜反射鏡拆入地漏時的狀態(tài)示意圖。
本發(fā)明實(shí)施例涉及的附圖標(biāo)記如下所示:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811258124.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





