[發(fā)明專利]PLC型礦用綜保系統(tǒng)檢測(cè)裝置工控機(jī)顯控裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811256468.1
• 申請(qǐng)日: 2018-10-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109444577A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-03-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳偉;何前進(jìn);胡祥偉;王亞明;鄧海順
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安徽理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R31/327
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.PLC型礦用綜保系統(tǒng)檢測(cè)裝置工控機(jī)顯控裝置，其特征是：

PLC為主控制器,工控機(jī)為顯控裝置，顯控裝置上有電子保護(hù)器性能測(cè)試和真空交流接觸器性能測(cè)試按鍵；

電子保護(hù)器性能測(cè)試包括過(guò)載、斷相、過(guò)壓、欠壓和漏電閉鎖測(cè)試顯控裝置；

過(guò)載測(cè)試顯控裝置包括過(guò)載倍數(shù)設(shè)定，過(guò)載測(cè)試顯控裝置和斷相測(cè)試顯控裝置包括額定電流、A相實(shí)測(cè)動(dòng)作電流值、B相實(shí)測(cè)動(dòng)作電流值、C相實(shí)測(cè)動(dòng)作電流值和動(dòng)作時(shí)間顯示；

過(guò)壓和欠壓測(cè)試顯控裝置包括額定電壓、當(dāng)前電壓和動(dòng)作時(shí)間顯示；

漏電閉鎖測(cè)試顯控裝置包括漏電閉鎖電阻值顯示；

真空交流接觸器性能測(cè)試包括同步時(shí)間測(cè)試、絕緣電壓和接觸電阻測(cè)試顯控裝置；

同步時(shí)間測(cè)試顯控裝置包括A相吸合時(shí)間顯示、B相吸合時(shí)間顯示、C相吸合時(shí)間顯示，實(shí)測(cè)電壓當(dāng)前值、吸合電壓、釋放電壓數(shù)值顯示，計(jì)時(shí)復(fù)位按鍵；

絕緣電壓測(cè)試顯控裝置包括啟動(dòng)和復(fù)位按鍵；

接觸電阻測(cè)試顯控裝置包括A相接觸電阻值、B相接觸電阻值、C相接觸電阻值和當(dāng)前接觸電阻值顯示；

過(guò)載、斷相、過(guò)壓、欠壓、漏電閉鎖、同步時(shí)間測(cè)試、絕緣電壓和接觸電阻測(cè)試顯控裝置均包括編號(hào)和型號(hào)輸入框、合格和不合格指示燈、不合格聲音播放、打印/保存和返回按鍵。