[發明專利]測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法在審
| 申請號： | 201811254078.0 | 申請日： | 2018-10-25 |
| 公開（公告）號： | CN111103313A | 公開（公告）日： | 2020-05-05 |
| 發明（設計）人： | 李瑞峰;趙吉娜;王偉眾;曲家波;袁宗勝;包世星;劉彥峰;楊曉東;高善彬 | 申請（專利權）人： | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/20 | 分類號： | G01N23/20;G01N23/2005 |
| 代理公司： | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人： | 高龍鑫;王玉雙 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測定 zsm 22 分子篩 硅石 含量 射線 衍射 方法 | ||
1.一種測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，包括如下步驟：
a、試樣制備
將預處理的待測ZSM-22分子篩樣品與硅相標樣混合，并且濕法研磨，得待測混合試樣；
白硅石相標樣和相同質量的所述硅相標樣混合，并且濕法研磨，得待測混合標樣；
b、試樣分析
用X射線衍射儀分別測定并收集所述待測混合試樣和所述待測混合標樣的粉末X射線衍射數據各兩套；
c、結果計算
采用X射線衍射數據處理系統軟件中的Pearson Ⅶ化學計量學分峰程序，獲得每個試樣中白硅石相(101)晶面和硅相(111)晶面峰面積強度計數值并求其平均值，用K值法計算待測ZSM-22分子篩樣品中白硅石相的含量。
2.根據權利要求1所述的測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，其特征在于，步驟a中所述預處理是經最低溫度焙燒活化。
3.根據權利要求1所述的測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，其特征在于，步驟a中，所述濕法研磨為無水乙醇濕法研磨。
4.根據權利要求1所述的測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，其特征在于，步驟a中，所述待測混合試樣粒度D(50)為4μm。
5.根據權利要求1所述的測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，其特征在于，步驟a中，所述待測混合標樣粒度D(50)為3μm。
6.根據權利要求1所述的測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，其特征在于，步驟a中，所述研磨是采用機械研磨30min。
7.根據權利要求1所述的測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，其特征在于，步驟a中，所述硅相標樣為無任何衍射峰干擾的硅相標準物。
8.根據權利要求1所述的測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法，其特征在于，所述待測ZSM-22分子篩樣品中白硅石相的質量分數為1.8％～31.3％。
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