[發明專利]短路檢測模塊

有效

• 申請號: 201811252791.1
• 申請日: 2015-09-29
• 公開（公告）號: CN109613381B
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 郭佃波;黃英杰;A·辛
• 申請（專利權）人: 意法半導體亞太私人有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52;G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

1.一種使用短路檢測模塊來對具有按行和列安排的多條線的線矩陣中的短路進行檢測和定位的方法，所述方法包括：

將所述短路檢測模塊的多個短路檢測電路之一耦接至所述線矩陣的每一行和每一列；

將所述短路檢測電路的輸入設置為高；

使用所述短路檢測電路同時對所述線矩陣中的多個行進行第一測試；

將所述短路檢測電路的所述輸入設置為低；以及

使用所述短路檢測電路同時對所述線矩陣中的多個行進行第二測試；

當只有所述第一測試指示在特定行上的短路時，報告所述特定行對電源短路；

當只有所述第二測試指示在特定行上的短路時，報告所述特定行對地短路；以及

當所述第一測試和所述第二測試均指示在特定行上的短路時，報告所述特定行對鄰近線短路。

2.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

當所述第一測試和所述第二測試均指示在特定行上的短路時：

使用所述短路檢測電路來測試與所述特定行相鄰的多個附加行；

當兩個相鄰行指示短路時，將所述兩個相鄰行報告為所述短路的位置；

使用所述短路檢測電路對所述線矩陣的每一列進行串行測試；以及

當特定列指示短路時，將所述短路的位置報告為所述特定行和所述特定列的矩陣坐標。

3.一種存儲有計算機可執行指令的計算機可讀存儲介質，當由微處理器執行時，所述計算機可執行指令引起所述微處理器：

將短路檢測模塊的多個短路檢測電路之一耦接至線矩陣的每一行和每一列，所述線矩陣具有按行和列安排的多條線；

將對所述短路檢測電路的輸入設置為高；

使用所述短路檢測電路同時對所述線矩陣中每隔一行進行第一測試；

將對所述短路檢測電路的所述輸入設置為低；使用所述短路檢測電路同時對所述線矩陣中每隔一行進行第二測試；

當只有所述第一測試指示在特定行上的短路時，報告所述特定行對電源短路；

當只有所述第二測試指示在特定行上的短路時，報告所述特定行對地短路；以及

當所述第一測試和所述第二測試均指示在特定行上的短路時，報告所述特定行對鄰近線短路。

4.根據權利要求3所述的計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有多條指令，所述指令進一步引起所述微處理器：

當所述第一測試和所述第二測試均指示在特定行上的短路時，

使用所述短路檢測電路來測試與所述特定行相鄰的多個附加行；并且

當兩個相鄰行指示短路時，

將所述兩個相鄰行報告為所述短路的位置；

使用所述短路檢測電路對所述線矩陣的每一列進行串行測試；并且

當特定列指示短路時，將所述短路的位置報告為所述特定行和所述特定列的矩陣坐標。