[發明專利]氣體分析裝置有效
| 申請號： | 201811250399.3 | 申請日： | 2018-10-25 |
| 公開（公告）號： | CN109975240B | 公開（公告）日： | 2023-10-10 |
| 發明（設計）人： | 谷口裕;小泉和裕;山內芳準 | 申請（專利權）人： | 富士電機株式會社 |
| 主分類號： | G01N21/39 | 分類號： | G01N21/39;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人： | 張鑫;俞丹 |
| 地址： | 日本神*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 氣體 分析 裝置 | ||
1.一種氣體分析裝置，對待測氣體中包含的成分進行分析，該氣體分析裝置的特征在于，包括：
發光部，該發光部向所述待測氣體照射激光；
光接收部，該光接收部接收通過所述待測氣體后的所述激光；
驅動部，該驅動部使配置在供所述激光通過的光路上的至少一個光學元件移動，從而改變所述激光的光路長度；以及
計算部，該計算部基于在所述光學元件的位置相差所述激光的波長的n/2倍的2個狀態下由所述光接收部檢測出的各個信號，來計算所述待測氣體的濃度，其中，n為整數。
2.如權利要求1所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述發光部具有發光元件，
所述光接收部具有光接收元件，
所述驅動部使所述發光元件和所述光接收元件中的至少一方移動。
3.如權利要求1或2所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述驅動部使所述光學元件以所述激光的波長的n/2倍的振幅移動。
4.如權利要求3所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述光接收部與所述驅動部使所述光學元件移動的周期同步地測定所述激光的強度。
5.如權利要求2所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述發光部具有發光波長不同的多個所述發光元件，
所述驅動部使所述光接收元件移動。
6.如權利要求5所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述發光部選擇任意所述發光元件并使其發光，
所述驅動部使所述光接收元件以與正在發光的所述發光元件的發光波長相應的振幅移動。
7.如權利要求5所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述發光部依次選擇所述發光元件并使其發光，
所述驅動部使所述光接收元件依次移動到與正在發光的所述發光元件的發光波長相應的位置上。
8.如權利要求2所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述發光部還具有使所述發光元件散熱的散熱部，
所述驅動部使所述光接收元件移動。
9.如權利要求2所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述發光部具有：
散熱部，該散熱部使所述發光元件散熱；以及
連接部，該連接部使所述發光元件和所述散熱部的相對位置不固定，而在所述發光元件和所述散熱部之間進行熱連接，
所述驅動部使所述發光元件移動。
10.如權利要求2所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述光接收部還具有電路基板，該電路基板上設有對所述光接收元件輸出的信號進行放大的放大器，
所述驅動部使所述光接收元件和所述電路基板移動。
11.如權利要求1至10的任一項所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述驅動部用三角波控制表示所述光學元件移動的位置的振動波形。
12.如權利要求1至10的任一項所述的氣體分析裝置，其特征在于，
所述驅動部用矩形波控制表示所述光學元件移動的位置的振動波形。
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