[發明專利]一種掩膜版制作工藝在審
| 申請號: | 201811250051.4 | 申請日: | 2018-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN109407462A | 公開(公告)日: | 2019-03-01 |
| 發明(設計)人: | 鄭躍勇;劉斌 | 申請(專利權)人: | 寧波微迅新材料科技有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/68 | 分類號: | G03F1/68 |
| 代理公司: | 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙) 33228 | 代理人: | 李迎春 |
| 地址: | 315000 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學高分子 復合板材 掩膜版 光刻 制作工藝 抗反射 密著層 顯影槽 顯影 復合板材表面 玻璃制作 激光曝光 傳統的 對中性 顯影液 堅膜 上旋 涂膠 旋涂 掩膜 直寫 制作 浸泡 | ||
本發明公開了一種掩膜版制作工藝,包括如下步驟:S1、涂膠:提供一光學高分子PC復合板材,在所述光學高分子PC復合板材表面旋涂抗反射中性密著層,在所述抗反射中性密著層上旋涂中性UV光刻膠;S2、光刻:通過光刻直寫掩膜機對中性UV光刻膠進行激光曝光;S3、顯影:將光刻后的光學高分子PC復合板材置于一顯影槽進行浸泡顯影,所述顯影槽內設有顯影液;S4、堅膜。本發明采用光學高分子PC復合板材來制作掩膜版相比于傳統的玻璃制作,大大降低了其制作的周期。
技術領域
本發明涉及掩膜版制作領域,特別涉及一種掩膜版制作工藝。
背景技術
現有的掩膜版制作大多是在玻璃上進行的,通過多次電鍍膜來制作掩膜版,再在其上制作工藝圖案,但這種會有明顯的凸起,較容易磨損。玻璃制品都是在玻璃表面涂上薄膜層,再通過光刻膠作為掩膜對玻璃上不需要的薄膜層進行腐蝕,形成圖案。而且采用玻璃制作,其成本較高,也較容易損壞。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是:提供一種掩膜版制作工藝,通過改變掩膜版底板的材料來降低成本和制作周期。
本發明解決上述問題所采用的技術方案為:一種掩膜版制作工藝,包括如下步驟:
S1、涂膠:提供一光學高分子PC復合板材,在所述光學高分子PC復合板材表面旋涂抗反射中性密著層,在所述抗反射中性密著層上旋涂中性UV光刻膠;
S2、光刻:通過光刻直寫掩膜機對中性UV光刻膠進行激光曝光;
S3、顯影:將光刻后的光學高分子PC復合板材置于一顯影槽進行浸泡顯影,所述顯影槽內設有顯影液;
S4、堅膜。
優選的,所述UV光刻膠由中性UV油、光刻膠和助劑按照4:5:1的比例混合而成。
優選的,在所述步驟S1中,包括如下步驟:
S11、提供一光學高分子PC復合板材;
S12、在所述光學高分子PC復合板材上涂抹抗反射中性密著層,通過自然流平方式使抗反射中性密著層平鋪至整個光學高分子PC復合板材上;
S13、待所述抗反射中性密著層晾干后,在其上涂抹中性UV光刻膠,通過旋轉甩平方式將中性UV光刻膠平鋪在抗反射中性密著層上;
S14、進行烘烤固化。
這樣,在涂膠工藝中,能夠保證每層膠都能夠均勻覆蓋,再通過最后的烘烤使各層之間緊密連接。
優選的,在步驟S14中,將涂抹處理后的所述光學高分子PC復合板材置于100-110℃中烘烤10-25min,進行固化,使各層之間緊密連接。
優選的,在所述步驟S3中,光刻后的所述高分子PC復合板材傾斜置于顯影槽。相比于傳統的直接水平放入顯影液,采用傾斜放置于顯影槽,便于顯影。
優選的,所述顯影液包括氫氧化鈉、助劑和活性水。
優選的,在步驟S4中,所述堅膜采用烘烤堅膜,烘烤溫度為100-110℃,烘烤時間為15-30min。這樣,在密閉的無塵環境下,進行烘烤,使堅膜效果更好。
與現有技術相比,本發明的優點在于:采用光學高分子PC復合板材來制作掩膜版相比于傳統的玻璃制作,大大降低了其制作的周期;通過改進相應的抗反射中性密著層和中性UV光刻膠的主要組成成分,使其具備較強的粘性,讓抗反射中性密著層能夠粘接在光學高分子PC復合板材上,同時中性UV光刻膠能夠粘接在抗反射中性密著層。
附圖說明
圖1本發明光刻直寫前結構示意圖;
圖2本發明掩膜版結構示意圖。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





