[發(fā)明專利]陣列天線方向圖自修復(fù)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811247003.X | 申請日: | 2018-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN109299570B | 公開(公告)日: | 2023-02-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱賽;蔡金燕;呂貴洲;韓春輝;安婷 | 申請(專利權(quán))人: | 中國人民解放軍陸軍工程大學(xué) |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;H01Q21/00 |
| 代理公司: | 石家莊輕拓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 13128 | 代理人: | 王占華 |
| 地址: | 050000 河北*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 天線方向圖 修復(fù) 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種陣列天線方向圖自修復(fù)方法,涉及陣列天線技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括如下步驟:獲取陣列天線中發(fā)生故障的陣元信息以及未發(fā)生故障的陣元信息;根據(jù)獲取的發(fā)生故障的陣元信息以及未發(fā)生故障的陣元信息建立陣列天線方向圖自修復(fù)數(shù)學(xué)模型;對建立的陣列天線方向圖自修復(fù)數(shù)學(xué)模型進(jìn)行求解,完成所述方向圖的自修復(fù)。所述方法自修復(fù)過程計(jì)算速度快,且計(jì)算時間受陣列中陣元數(shù)目影響較小,可用于大規(guī)模陣列天線。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及陣列天線技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種陣列天線方向圖自修復(fù)方法。
背景技術(shù)
陣列天線由于其大功率、高增益、快速波束掃描等特點(diǎn)而廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代雷達(dá)裝備。陣列天線通常由數(shù)目眾多的陣元組成,通過每個陣元激勵信號的幅值、相位變化,在空中合成大功率、高增益、不同指向的波束。大量的陣元是陣列天線的基礎(chǔ),而陣元數(shù)目的增加,也使得陣列出現(xiàn)失效陣元的概率提高。陣列天線結(jié)構(gòu)復(fù)雜,失效陣元不易修復(fù),特別在航空航天、戰(zhàn)場等應(yīng)用環(huán)境下,也無法做到及時修復(fù)。因此,研究陣列天線自修復(fù)方法,充分利用陣列天線內(nèi)正常陣元資源,保證陣列天線性能,對于陣列天線設(shè)計(jì)、應(yīng)用既具有理論研究意義,又有實(shí)際工程迫切需求。
國內(nèi)外學(xué)者對陣列天線自修復(fù)進(jìn)行了廣泛研究。研究過程中,有學(xué)者稱該問題為陣列天線的自修復(fù)(self-healing),也有學(xué)者稱之為失效陣元修正(failurecorrection)、失效陣元補(bǔ)償(compensation for errors)、失效陣元下的方向圖校準(zhǔn)(pattern calibration)。而在研究過程中,均通過對陣列天線中剩余正常陣元激勵的重新配置,從而最大程度的恢復(fù)陣列天線性能。在激勵重配置過程中,采用了遺傳算法(GeneticAlgorithm,GA)、螢火蟲算法(Firefly Algorithm,FA)、布谷鳥搜索-雞群優(yōu)化算法(CuckooSearch–Chicken Swarm Optimisation,CSCSO)、粒子群及其改進(jìn)算法(Particle SwarmOptimisation,PSO)、細(xì)菌覓食優(yōu)化算法(Bacteria Foraging Optimization,BFO)、差分進(jìn)化算法(Differential Evolution,DE)、布谷鳥搜索算法(Cuckoo Search Algorithm,CSA)等多種智能優(yōu)化算法,同時快速傅里葉變換(Fast Fourier transform,FFT)及快速傅里葉逆變換(Inverse Fast Fourier Transform,IFFT)等經(jīng)典數(shù)據(jù)處理方法也被用于陣列天線自修復(fù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是如何提供一種自修復(fù)過程計(jì)算速度快,且計(jì)算時間受陣列中陣元數(shù)目影響較小,可用于大規(guī)模陣列天線的方向圖自修復(fù)計(jì)算的陣列天線方向圖自修復(fù)方法。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明所采取的技術(shù)方案是:一種陣列天線方向圖自修復(fù)方法,其特征在于包括如下步驟:
獲取陣列天線中發(fā)生故障的陣元信息以及未發(fā)生故障的陣元信息;
根據(jù)獲取的發(fā)生故障的陣元信息以及未發(fā)生故障的陣元信息建立陣列天線方向圖自修復(fù)數(shù)學(xué)模型;
對建立的陣列天線方向圖自修復(fù)數(shù)學(xué)模型進(jìn)行求解,完成所述方向圖的自修復(fù)。
進(jìn)一步的技術(shù)方案在于:所述方向圖是表征陣列天線產(chǎn)生電磁場及其能量空間分布的一個性能參量,表征了與天線等距離、不同方向的空間各點(diǎn)輻射場強(qiáng)變化;對于結(jié)構(gòu)形狀、電流分布和安裝姿態(tài)都一樣的相似陣元組成的直線陣,不考慮陣元間耦合,其輻射場為:
E(θ)=F(θ)fc(θ) (1)
式中,fc(θ)為單元因子,F(xiàn)(θ)為陣因子;對于含有N個陣元的直線陣列天線,其陣因子為
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