[發明專利]同時獲取光響應圖像和反射率圖像的方法、裝置、系統及存儲介質

有效

• 申請號: 201811246608.7
• 申請日: 2018-10-25
• 公開（公告）號: CN109269777B
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 張子邦;鐘金鋼;姚曼虹
• 申請（專利權）人: 暨南大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 陳燕嫻

1.同時獲取光響應圖像和反射率圖像的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、產生一系列不同頻率的哈達瑪基底圖案對，將該哈達瑪基底圖案轉化為結構光場；

S2、將結構光場投影至待測光電器件，并將所述待測光電器件的反射光傳送至光電探測器件，同時采集并記錄待測光電器件以及光電探測器在所述結構光場照明下產生的電信號；

S3、根據所述結構光場與相應所述電信號的關聯性，計算重建所述待測光電器件的光響應圖像以及與光響應圖像視場相同的反射率圖像。

2.根據權利要求1的所述方法，其特征在于，所述S1中，

利用公式(1)和公式(2)生成一系列不同頻率的哈達瑪基底圖案對，

其中P₊₁和P_-1表示一對互補的哈達瑪基底圖案，H^-1表示哈達瑪反變換，(x,y)表示哈達瑪基底圖案的像素坐標，(f_x,f_y)表示頻率，δ_H(f_x,f_y)表示沖擊函數。

3.根據權利要求1的所述方法，其特征在于，

所述S2包括：從所述待測光電器件采集到的電信號強度表示為公式(3)和公式(4)，

D₊₁＝∫∫I_func(x,y)·[P₊₁(f_x,f_y,x,y)+P₀]dxdy+ε 公式(3)，

D_-1＝∫∫I_func(x,y)·[P_-1(f_x,f_y,x,y)+P₀]dxdy+ε 公式(4)，

其中D₊₁、D_-1分別表示P₊₁、P_-1哈達瑪結構光場照明時從所述待測光電器件采集到的電信號強度，I_func(x,y)表示待測光電器件的光響應圖像，P₀是環境光強，ε是噪聲；

從所述光電探測器采集到的電信號強度表示為公式(5)和公式(6)，

D′₊₁＝∫∫I_struc(x,y)·[P₊₁(f_x,f_y,x,y)+P₀′]dxdy+ε′ 公式(5)，

D′_-1＝∫∫I_struc(x,y)·[P_-1(f_x,f_y,x,y)+P₀′]dxdy+ε′ 公式(6)，

其中D′₊₁、D′_-1分別表示P₊₁、P_-1哈達瑪結構光場照明時從所述光電探測器采集到的電信號強度，I_struc(x,y)表示待測光電器件的反射率圖像，P₀′是環境光強，ε′是噪聲。