[發明專利]levy噪聲下改進勢函數隨機共振微弱信號檢測方法在審
| 申請號： | 201811243844.3 | 申請日： | 2018-10-24 |
| 公開（公告）號： | CN109409284A | 公開（公告）日： | 2019-03-01 |
| 發明（設計）人： | 賀利芳;周林;謝攀;唐鑫雨;劉金峰;楊玉蕾 | 申請（專利權）人： | 重慶郵電大學 |
| 主分類號： | G06K9/00 | 分類號： | G06K9/00;G01H13/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 400065*** | 國省代碼： | 重慶;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 勢函數 微弱信號檢測 隨機共振 噪聲 尋優 改進 檢測 四階龍格庫塔 信號處理技術 高通濾波器 輸出信噪比 包絡信號 低頻干擾 獨立調節 二次采樣 符合條件 高頻信號 工程應用 微弱信號 噪聲背景 重要意義 靈活的 自適應 求解 濾波 算法 衡量 | ||
【權利要求書】：
1.一種levy噪聲下改進勢函數隨機共振微弱信號檢測方法，有效地檢測levy噪聲背景下的微弱信號，提出了一種改進的勢函數系統，使用四階龍格庫塔法進行求解，以輸出信噪比為系統衡量指標，利用自適應尋優算法對參數進行尋優，使用尋優得出的參數進行隨機共振實現對高低頻微弱信號的檢測。
2.根據權利要求1所述的levy噪聲下改進勢函數隨機共振微弱信號檢測方法，其特征在于，提出了一個新型的勢函數，其方程為：u(x)＝-axsin(2πfx)，有著獨立的參數a、f以實現對勢函數勢阱寬度與勢阱深度的單獨調整，可更加靈活的改變形狀以適應不同的輸入信號，以達到更好的檢測效果。
3.根據權利要求1所述的levy噪聲下改進勢函數隨機共振微弱信號檢測方法，其特征在于，針對待檢測信號為高頻信號時，本發明對檢測流程做了進一步改進，在使用二次采樣讓信號滿足絕熱近似理論與線性響應理論之前，使用了Hilbert變換求取其包絡信號，再通過高通濾波器對一部分低頻干擾信息進行濾波，進一步減少干擾信號，更有利于所提的隨機共振改進勢函數系統對高頻微弱信號的檢測。
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