[發(fā)明專利]一種機(jī)器人恒力拋光方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811242193.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109465677B | 公開(公告)日: | 2021-03-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳超群;曹詩宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | B24B1/00 | 分類號(hào): | B24B1/00;B24B51/00 |
| 代理公司: | 武漢科皓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 張火春 |
| 地址: | 430070 湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 機(jī)器人 恒力 拋光 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種機(jī)器人恒力拋光方法,拋光方法步驟為先將要拋光的零件模型導(dǎo)入至機(jī)器人軟件中,對(duì)拋光表面進(jìn)行取點(diǎn),設(shè)置取點(diǎn)的間隔和行間距,然后對(duì)點(diǎn)隨機(jī)生成偏移量進(jìn)行偏移最后生成路徑,設(shè)置力的大小以及方向?qū)α慵砻孢M(jìn)行恒力拋光。本發(fā)明能夠消除拋光表面劃痕嚴(yán)重的問題,保證整個(gè)拋光表面的一致性,可有效提高工件表面粗糙度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及機(jī)械加工領(lǐng)域,涉及一種機(jī)器人的拋光方法,特別涉及一種機(jī)器人恒力拋光方法。
背景技術(shù)
拋光是指對(duì)工件表面進(jìn)行打磨,使其變得更加光亮,最初的拋光通常不去量,并不改變零件的尺寸大小,拋光方式采用羊毛氈、線輪等柔軟的工具進(jìn)行機(jī)械拋光。隨著拋光技術(shù)的不斷發(fā)展,拋光也能夠?qū)崿F(xiàn)一定范圍內(nèi)的定量去除,同時(shí)拋光方式也發(fā)展為物理、化學(xué)、電解、超聲波等不同種類。拋光后的零件表面質(zhì)量更高、光潔度更高,能夠去除銑削等加工殘余的變質(zhì)層、應(yīng)力層,從而提高零件的壽命和性能,
機(jī)械拋光通常分為兩個(gè)階段:粗拋主要將銑削后的應(yīng)力層和刀痕去掉,顯著降低表面粗糙度。精拋是在粗拋的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步降低零件表面粗糙度,同時(shí)對(duì)工件進(jìn)行上光、變亮處理,使其達(dá)到規(guī)定的表面質(zhì)量要求。傳統(tǒng)的拋光通常由工人手工完成有以下幾個(gè)缺點(diǎn)(1)其勞動(dòng)強(qiáng)度大、工作時(shí)間長(zhǎng),效率低下,葉片表面紋理的一致性差(2)同時(shí)手工拋光過程中產(chǎn)生的大量粉塵,對(duì)環(huán)境影響十分嚴(yán)重,對(duì)人體造成損害。(3)拋光效果直接取決于工人的熟練程度,而手工拋光的偶然性和不一致性都很強(qiáng),難以保證零件具有足夠的可靠性,在采用機(jī)器人進(jìn)行拋光時(shí)由于機(jī)器人相較于人手剛度大得多,拋光表面容易產(chǎn)生劃痕導(dǎo)致表面質(zhì)量較差,因此研究一種能夠消除表面劃痕的表面方法極其重要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于解決傳統(tǒng)人工拋光表面一致性差以及機(jī)器人拋光過程中劃痕嚴(yán)重等問題,提供一種仿人手的機(jī)器人恒力拋光方法。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
一種機(jī)器人恒力拋光方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:獲取工件被加工面的方程g(x,y,z);
步驟2:設(shè)置加工范圍的起點(diǎn)和終點(diǎn)分別為S(x,y,z),T(x,y,z);
步驟3:以行距為D,列距為L(zhǎng)的行掃描方式在加工面g(x,y,z)生成第i行j列的參考點(diǎn)Gij(Xij,Yij,Zij);
步驟4:設(shè)置偏置范圍△G(△X,△Y,△Z),對(duì)工件被加工面的參考點(diǎn)進(jìn)行偏置得到路徑控制點(diǎn)為Sk=Gij+△Gij,k=(i-1)+j,k為路徑控制點(diǎn)序數(shù),△Gij為第i行第j列參考點(diǎn)偏置矢量,將起點(diǎn)和終點(diǎn)之間所有路徑控制點(diǎn)依次相連,即形成機(jī)器人拋光軌跡路徑;
步驟5:設(shè)置加工面第k個(gè)路徑控制點(diǎn)Sk的法向接觸力Fk(Fx,Fy,Fz),(Fx,Fy,Fz)為第k個(gè)路徑控制點(diǎn)接觸力的矢量坐標(biāo);
步驟6:按照機(jī)器人軌跡路徑以加工面法向接觸力Fk(Fx,Fy,Fz)進(jìn)行拋光。
作為改進(jìn),步驟4中,偏置為在工件表面參考點(diǎn)連線向兩側(cè)偏移,相鄰參考點(diǎn)的偏置方向相反。
作為改進(jìn),步驟4中,每一行參考點(diǎn)偏置量均相同。
作為改進(jìn),步驟4中,在偏置完所有參考點(diǎn)后,可以用插值法在相鄰路徑控制點(diǎn)之間加入新的路徑控制點(diǎn),以便增加成機(jī)器人拋光軌跡路徑控制密集程度。
作為改進(jìn),步驟6中,按照規(guī)劃的機(jī)器人拋光軌跡路徑拋光后,再按照步驟4方法將加工面上終點(diǎn)和起點(diǎn)交換,規(guī)劃反向成機(jī)器人拋光軌跡路徑,使得反向成機(jī)器人拋光軌跡路徑與原成機(jī)器人拋光軌跡路徑剛好交錯(cuò)排列。
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