[發明專利]熱光系數的測量系統及測量方法

在審

• 申請號: 201811242162.0
• 申請日: 2018-10-24
• 公開（公告）號: CN109164065A
• 公開（公告）日: 2019-01-08
• 發明（設計）人: 陳郁芝;李學金;方林;洪學明
• 申請（專利權）人: 深圳大學
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41;G01K11/32
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 袁文英

本發明提供一種熱光系數的測量系統，涉及光纖領域，包括：信號發射器組、光纖熱光系數傳感器和處理器。信號發射器組與被測材料通過傳輸光纖連接。被測量材料覆蓋于光纖熱光系數傳感器的表面，或者光纖熱光系數傳感器位于被測材料中。光纖熱光系數傳感器與處理器通過傳輸光纖連接。光纖熱光系數傳感器包括光纖溫度傳感器和光纖折射率傳感器，光纖溫度傳感器和光纖折射率傳感器串聯。本發明還提供一種熱光系數的測量方法，將該測量方法應用于熱光系數的測量系統，可以同時測量被測材料的同一位置的溫度和折射率，進而使得到的熱光系數更準確。

技術領域

本發明涉及光纖領域，尤其涉及一種熱光系數的測量系統及測量方法。

背景技術

熱光系數是指光學材料的折射率隨著溫度變化的變化率，用光學材料的折射率與溫度的比值系數來表示。不同光學材料的熱光系數不同，需要一種熱光系數測量系統對光學材料的熱光系數的進行測量。

現有的熱光系數測量系統一般通過測量正在被加熱的被測材料的折射率，計算得到該被測材料的熱光系數，這種熱光系數測量系統普遍無法同時測量被測材料的同一位置的折射率和溫度，導致得到的熱光系數不準確。

發明內容

本發明提供一種熱光系數的測量系統及一種熱光系數的測量方法，將該測量方法一個用于該熱光系數的測量系統，可以同時測量被測材料的同一位置的折射率和溫度，進而使得到的熱光系數更準確。

本發明實施例第一方面提供一種熱光系數的測量系統，包括：信號發射器組、光纖熱光系數傳感器和處理器；

所述信號發射器組與被測材料通過傳輸光纖連接；

所述被測量材料覆蓋于所述光纖熱光系數傳感器的表面，或者所述光纖熱光系數傳感器位于所述被測材料中；

所述光纖熱光系數傳感器與所述處理器通過傳輸光纖連接；

所述光纖熱光系數傳感器包括光纖溫度傳感器和光纖折射率傳感器，所述光纖溫度傳感器和所述光纖折射率傳感器串聯。

本發明還提供一種熱光系數的測量方法，該測量方法應用于一種熱光系數的測量系統，該測量系統包括：

通過光纖熱光系數傳感器同時獲取被測材料的同一位置的溫度數據信號和折射率數據信號，并將所述溫度數據信號和折射率數據信號通過傳輸光纖傳輸至處理器；

通過所述處理器根據所述溫度數據信號和折射率數據信號計算得到所述被測材料的熱光系數。

在上述各實施例中，由于設置有光纖熱光系數傳感器，光纖熱光系數傳感器包括光纖溫度傳感器和光纖折射率傳感器，且光纖溫度傳感器和光纖折射率傳感器串聯，故可以同時測量被測材料的同一位置的溫度和折射率，進而使得到的熱光系數更準確。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明第一實施例提供的熱光系數的測量系統的結構示意圖；

圖2為本發明第二實施例提供的熱光系數的測量系統的結構示意圖；

圖3為本發明第三實施例提供的熱光系數的測量系統的結構示意圖；

圖4為本發明第四實施例提供的熱光系數的測量方法的流程圖；

圖5為本發明第五實施例提供的熱光系數的測量方法的流程圖。

具體實施方式