[發明專利]NF系列防熱材料產品X射線檢測方法

有效

• 申請號: 201811241983.2
• 申請日: 2018-10-24
• 公開（公告）號: CN109444180B
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發明（設計）人: 孫利;高小松;馬寧;楊耀東
• 申請（專利權）人: 北京衛星制造廠有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 武瑩

1.NF系列防熱材料產品X射線檢測方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟(1)制作預制體階段射線檢測像質計；

其中，制作預制體階段射線檢測像質計的方法為：

首先制作材料與待檢測產品相同的預制體階段射線檢測像質計，使得預制體階段射線檢測像質計厚度等于待檢測產品的厚度；

然后在預制體階段射線檢測像質計中根據待檢測產品靈敏度檢測要求選取三個大小相同的區域，等比減少三個區域內碳纖維網胎層數與石英網胎層數，使得各個區域的密度與標準區域的密度存在等差或者等比差的差值，且差值的最小值不大于待檢測產品射線檢測靈敏度；

最后在預制體階段射線檢測像質計中標準區域放置金屬夾雜，金屬夾雜直徑不大于待檢測產品檢測靈敏度；

步驟(2)選取設備、儀器與器材；

其中，選取設備、儀器與器材的方法為：X射線機最高管電壓應至少比所透照的NF系列防熱材料產品最大透照電壓高15kV，最低管電壓不大于35kV，管電壓的調整精度為±5kV，焦點尺寸不大于1mm，窗口材料為鈹，選用細顆粒J1類膠片，增感屏采用金屬箔增感屏，無前屏或前屏厚度不大于0.03mm，后屏增感屏厚度不小于0.03mm，片燈應具有可調亮度，最大亮度不低于100 000cd/m²，觀片燈的強光照明區域能夠屏蔽所觀察區域的最小面積，放大鏡倍數為3～10倍，并帶有刻度尺，最小刻度不大于0.2mm；

步驟(3)制作預制體階段密度不均勻標準試塊：

其中，制作預制體階段密度不均勻標準試塊的方法為：

制作厚度與待檢測產品一致且密度小于待檢測產品的預制體階段密度不均勻標準試塊；

對待檢測產品外表面質量進行外觀檢驗，如果待檢測產品外表面的不規則狀態在底片上的影像不影響對產品中缺陷的評定，則進行步驟(4)，否則不進行后續檢測；

步驟(4)對X射線機采用源在內偏心單壁透照技術，得到包括待檢測產品、預制體階段射線檢測像質計影像的底片，當預制體階段射線檢測像質計影像滿足待檢測產品要求的檢測靈敏度時，對待檢測產品根據工藝文件檢測要求對產品的檢測靈敏度進行評定，當待檢測產品的靈敏度滿足要求時，根據底片中預制體階段射線檢測像質計、待檢測產品的影像判斷待檢測產品中是否有金屬夾雜物，然后得到包含預制體階段密度不均勻標準試塊影像的底片，并進行預制體階段低密度不均勻性檢測；

步驟(5)制作固化后階段射線檢測像質計、固化后階段密度不均勻標準試塊；

制作固化后階段射線檢測像質計的方法為：

固化后階段射線檢測像質計采用柱孔型像質計，固化后階段射線檢測像質計的厚度、材料與待檢測產品的厚度一致，在固化后階段射線檢測像質計中心部位加工一組柱孔；

步驟(6)根據步驟(4)得到包含固化后階段射線檢測像質計、待檢測產品影像的底片，進行夾雜、孔洞和裂紋檢測，然后得到包含固化后階段密度不均勻標準試塊影像的底片，并進行固化后階段密度均勻性檢測，當待檢測產品預制體階段、固化后階段檢測均通過時，對應的NF系列防熱材料產品X射線檢測通過。

2.根據權利要求1所述的NF系列防熱材料產品X射線檢測方法，其特征在于：所述的得到包括待檢測產品、預制體階段射線檢測像質計影像的底片的方法為：

將待檢產品厚度一致的預制體階段射線檢測像質計放置在待檢產品相鄰處，使得預制體階段射線檢測像質計、待檢測產品均在射線檢測透照范圍內，或者當待檢測產品外形尺寸過大或超出透照范圍，無法將預制體階段射線檢測像質計放置在產品相鄰處時，采用相同的透照布置和參數對預制體階段射線檢測像質計進行透照，再與待檢測產品透照底片共同進行暗室處理，得到包括待檢測產品、預制體階段射線檢測像質計影像的底片。

3.根據權利要求2所述的NF系列防熱材料產品X射線檢測方法，其特征在于：所述的X射線機中心射線束應與待檢測區域的中心垂直，X射線機焦距f的確定方法為：

f/d≥7.5b^2/3

其中，d為射線源焦點尺寸，b為物體至膠片距離。