[發明專利]一種烤箱烤制食物均勻性評價方法有效
| 申請號: | 201811241879.3 | 申請日: | 2018-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN111091029B | 公開(公告)日: | 2022-05-17 |
| 發明(設計)人: | 楊云霞;楊建華;李志坤;付子興;王達;陳琳琳;王聰會 | 申請(專利權)人: | 寧波方太廚具有限公司 |
| 主分類號: | G06V20/10 | 分類號: | G06V20/10;G06V10/26;G06V10/56;G06V10/762;G06V20/68;G06K9/62 |
| 代理公司: | 寧波誠源專利事務所有限公司 33102 | 代理人: | 徐雪波;鄧青玲 |
| 地址: | 315336 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 烤箱 烤制 食物 均勻 評價 方法 | ||
本發明涉及一種烤箱烤制食物均勻性評價方法,其特征在于包括步驟一、采集烤箱內烤制食物的原始圖像;步驟二、對步驟一采集的原始圖像進行預處理得到第二圖像;步驟三、對第二圖像進行圖像超像素分割,得到多個烤制食物的像素塊;步驟四、比照預存的烤制程度標準色卡,將步驟三得到所有烤制食物的像素塊進行烤制程度的劃分;步驟五、根據步驟四得到的所有烤制食物的像素塊的烤制程度,利用模糊綜合評價方法得到烤制食物的均勻性評價指標。與現有技術相比,本發明的優點在于:利用模糊綜合評判方式得到烤制食品均勻性,結果更客觀、合理。
技術領域
本發明涉及一種烤箱烤制食物均勻性評價方法。
背景技術
家用電烤箱的溫場均勻性是影響烤制食品烤制效果的重要技術指標。國內現有電烤箱溫場均勻性評價手段主要以在烤箱腔體內布放多個熱電偶進行多點溫度分布測試為主要手段,直接反映烤箱內部溫場分布,烤制食物均勻性以色卡或測試員主觀進行判斷,缺少客觀準確的測試數據和嚴格的測試標準,對于電烤箱溫場分布特性改善和評價不能提供有效的指導。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是針對上述現有技術提供一種客觀、合理的烤箱烤制食物均勻性評價方法。
本發明解決上述技術問題所采用的技術方案為:一種烤箱烤制食物均勻性評價方法,其特征在于包括如下步驟
步驟一、采集烤箱內烤制食物的原始圖像;
步驟二、對步驟一采集的原始圖像進行預處理:在原始圖像中選取烤制食物所在的有效區域,得到第一圖像,將第一圖像中的背景去除,僅保留烤制食物的圖像信息,得到第二圖像;
步驟三、對第二圖像進行圖像超像素分割,得到多個烤制食物的像素塊;
步驟四、比照預存的烤制程度標準色卡,將步驟三得到所有烤制食物的像素塊進行烤制程度的劃分;
步驟五、根據步驟四得到的所有烤制食物的像素塊的烤制程度,利用模糊綜合評價方法得到烤制食物的均勻性評價指標。
作為改進,所述步驟五中,根據如下方式獲得烤制食物的均勻性評價指標:
步驟a、建立烤制食物均勻性評價因素集X={X1,X2,…,X9};其中X1代表烤糊,X2代表較糊,X3代表偏糊,X4代表烤好,X5代表偏欠,X6代表較欠,X7代表烤欠,X8代表所有烤糊、較糊、偏糊的像素塊中心距平均值,X9代表所有烤糊、較糊、偏糊的像素塊占總烤制食物的像素塊的百分比;
步驟b、建立烤制食物均勻性評價因素集X對應的模糊綜合評判權重值W=[W1,W2,…,W9],W1,W2,…,W9通過專家評議法預先設定;
步驟c、對烤制食物均勻性建立質量評價因素的模糊數學矩陣R中元素值為預存經驗值;
步驟d、將質量評價因素的模糊數學矩陣R乘以烤制食物均勻性評價因素集X得到合成矩陣Y:
步驟e、選定加權值U=[U1,U2,…,U9],U1,U2,…,U9的值為預設經驗值,對得到的合成矩陣Y中的各值進行加權評價,得到烤制食物的最終的均勻性評判分值Z,Z=U·YT,Z對應的評價值即為烤箱烤制食物的均勻性評價指標值。
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