[發(fā)明專利]一種奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸測量檢具

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811241878.9
• 申請日: 2018-10-24
• 公開（公告）號: CN109307465A
• 公開（公告）日: 2019-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馮磊;崔寶峰;張超
• 申請（專利權(quán)）人: 西安法士特汽車傳動有限公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 楊引雪

本發(fā)明涉及花鍵外圓尺寸測量檢具技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸測量檢具；解決了采用現(xiàn)有“V”型塊測量奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸時“V”型塊定位不便的技術(shù)問題。本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：一種奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸測量檢具，包括“V”型塊和千分表、定位塊、壓縮彈簧和壓蓋；定位塊為階梯軸，定位塊的大端設(shè)置與千分表的測頭外徑相適配的孔，小端設(shè)置能與被測件的花鍵齒相適配的豁口；“V”型塊的小端端部中心設(shè)置沉孔，定位塊的小端穿過沉孔下部小孔后用于定位被測件最高位的花鍵齒，其大端置于沉孔上部大孔內(nèi)；“V”型塊的小端端部設(shè)置壓蓋，壓蓋中心設(shè)有通孔；壓蓋與定位塊的大端端面之間設(shè)置壓縮彈簧。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種花鍵外圓尺寸測量器具，具體涉及一種奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸測量檢具。

背景技術(shù)

由于齒數(shù)為奇數(shù)的外花鍵，其外圓尺寸無法采用外徑千分尺測量，目前對于奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸的測量主要采用三點定位測量法和“V”型相切測量法。三點定位測量法的測量精度較低，無法滿足加工精度要求較高的花鍵軸檢測。對于外圓尺寸較小，加工精度要求高的奇數(shù)齒花鍵外圓的檢測，目前的“V”型相切法由于測量時存在“V”型塊定位不便的問題，即不易將“V”型塊的左右兩平面調(diào)整到正好與花鍵軸的齒頂外圓部分相切，或即使“V”型塊的左右兩平面未與花鍵齒的齒頂外圓部分相切，測量者也難以發(fā)現(xiàn)該問題，從而導(dǎo)致測量結(jié)果嚴重偏離真實值。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決采用“V”型塊測量奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸時，存在“V”型塊定位不便，而導(dǎo)致測量結(jié)果不準確的技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸測量檢具。

本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：

一種奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸測量檢具，包括“V”型塊和千分表，其特殊之處在于：還包括定位塊、壓縮彈簧和壓蓋。

所述定位塊為階梯軸，定位塊的大端設(shè)置與千分表的測頭外徑相適配的測頭過孔，小端設(shè)置能與被測件的花鍵齒相適配的豁口。

所述“V”型塊的小端中心設(shè)置沉孔，定位塊的小端穿過沉孔下部小孔后用于定位被測件最高位的花鍵齒，其大端置于沉孔上部大孔內(nèi)；所述“V”型塊的小端設(shè)置壓蓋，壓蓋中心設(shè)有通孔，千分表(4)的測頭依次穿過壓蓋(5)、“V”型塊(1)和定位塊(2)后與被測件(6)最高位的花鍵齒相接觸；壓蓋與定位塊的大端端面之間設(shè)置壓縮彈簧。

進一步地，為了結(jié)構(gòu)更簡單，所述壓縮彈簧的數(shù)量為一個，與定位塊2同軸設(shè)置。

進一步地，為了受力更均勻，所述壓縮彈簧的數(shù)量為兩個，兩個壓縮彈簧相對于定位塊的軸線對稱設(shè)置。

進一步地，為了安裝更方便，所述壓蓋通過螺釘連接在所述“V”型塊上。

進一步地，為了壓縮彈簧能夠更好的限位，所述定位塊的大端端面上設(shè)有凹槽，凹槽的直徑與所述壓縮彈簧的外徑相適配。

本發(fā)明相比現(xiàn)有技術(shù)的有益效果是：

1、本發(fā)明在現(xiàn)有“V”型塊上增設(shè)定位塊、壓縮彈簧和壓蓋，測量奇數(shù)齒花鍵外圓尺寸時，“V”型塊可快速定位，測量效率高。

2、本發(fā)明中的兩個壓縮彈簧相對于定位塊的軸線對稱設(shè)置，壓縮彈簧受力更均勻。

3、本發(fā)明中的壓蓋通過螺釘連接在所述“V”型塊的上，安裝更方便。

4、本發(fā)明中定位塊的大端端面上設(shè)有凹槽，凹槽的直徑與壓縮彈簧的外徑相適配，壓縮彈簧能夠更好的限位。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實施例中定位塊的結(jié)構(gòu)示意圖；