[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811235463.0 | 申請日: | 2018-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN109712870A | 公開(公告)日: | 2019-05-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 訾安仁;張慶裕;林進(jìn)祥 | 申請(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/027 | 分類號: | H01L21/027;G03F7/004 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 黃艷;李琛 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光阻層 圖案化 連結(jié) 半導(dǎo)體結(jié)構(gòu) 曝光工藝 無機(jī)材料 輔助劑 金屬核 復(fù)數(shù) 蝕刻 材料層圖案 基團(tuán)鍵結(jié) 形成材料 材料層 曝光光 基板 掩模 移除 阻層 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法,包括:
形成一材料層于一基板之上;
形成一光阻層于該材料層之上,其中該光阻層包括一無機(jī)材料及一輔助劑,其中該無機(jī)材料包括復(fù)數(shù)個(gè)金屬核及復(fù)數(shù)個(gè)第一連結(jié)基團(tuán),且其中該等第一連結(jié)基團(tuán)鍵結(jié)至該等金屬核;
通過進(jìn)行一曝光工藝,以曝光該光阻層的一部分,其中在該曝光工藝期間,該輔助劑與該等第一連結(jié)基團(tuán)進(jìn)行反應(yīng);
蝕刻該光阻層的一部分,以形成一經(jīng)過圖案化的光阻層;
通過使用該經(jīng)過圖案化的光阻層作為一掩模,以將該材料層圖案化;以及
移除該經(jīng)過圖案化的光阻層。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





