[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811235228.3 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109801838A | 公開(公告)日: | 2019-05-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 翁明暉;吳承翰;張慶裕;林進(jìn)祥;王筱姍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/027 | 分類號(hào): | H01L21/027;G03F7/004 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 向勇 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體結(jié)構(gòu) 光刻膠層 感光性聚合物 光刻膠材料 官能基團(tuán) 感光性 酸不穩(wěn)定基團(tuán) 鍵合 曝光制程 形成材料 材料層 基底 顯影 主鏈 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法,包括:
在一基底之上形成一材料層;
在該材料層之上形成一光刻膠層;
在該光刻膠層上進(jìn)行一曝光制程;以及
顯影該光刻膠層;
其中,該光刻膠層是由一光刻膠材料所形成,該光刻膠材料包括一感光性聚合物,且該感光性聚合物具有一第一感光性官能基團(tuán)及一第一酸不穩(wěn)定基團(tuán),該第一感光性官能基團(tuán)鍵合至該感光性聚合物的一主鏈,該第一酸不穩(wěn)定基團(tuán)鍵合至第一感光性官能基團(tuán)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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