[發明專利]檢測引腳懸空狀態的電路

在審

• 申請號: 201811228316.0
• 申請日: 2018-10-22
• 公開（公告）號: CN109239583A
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 羅旭程;胡建偉;程劍濤
• 申請（專利權）人: 上海艾為電子技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李慧引;王寶筠

本發明提供一種檢測引腳懸空狀態的電路，包括：與待測引腳相連的檢測單元，用于檢測所述待測引腳在接入電源和接地狀態下的阻值；與所述檢測單元相連的判斷單元，用于比較所述待測引腳在接入電源狀態的阻值和第一預定閾值，得到第一比較結果；以及比較所述待測引腳在接地狀態下的阻值和第二預定閾值，得到第二比較結果。通過上述公開的電路可以檢測出引腳是否懸空。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，尤其涉及一種檢測引腳懸空狀態的電路。

背景技術

引腳是從集成電路引出與外圍電路的接線口，所有的引腳就構成了這塊芯片的接口。芯片通過融化的錫將引腳和印制電路板，即PCB線路板上的焊盤焊接在一起。

現有技術中，由于焊盤和元器件可焊性差，印刷參數不正確，再流焊溫度和升溫速度不當等因素可能會造成虛焊。虛焊會造成芯片引腳開路，使得引腳是懸空狀態。如果引腳處于懸空狀態，那么會被微弱電流造成既能充電到電源電壓又能放電到接地電壓。如果引腳是焊接良好的，那么會有外接的電源或地或電阻等，就不會被微弱電流造成既能充電到電源電壓又能放電到接地電壓。

現有技術的缺點在于，在手機、平板等電子設備的批量生產中，由于PCB上芯片眾多而密集，工廠不可能有效監測到每個引腳的焊接質量情況。對于虛焊的芯片，只能靠整機的電性能測試來篩除。而如果虛焊的引腳沒有設置上拉或下拉電阻，處于懸空狀態，則每次上電后該引腳的狀態都是不確定的，其電壓值可能是0到電源電壓之間的一個任意值，因此芯片是時而能工作，時而不能工作，所以存在處于懸空狀態的引腳漏檢、誤檢的可能。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供一種檢測引腳懸空狀態的電路，以解決芯片時而能工作，時而不能工作，并且存在處于懸空狀態的引腳漏檢、誤檢的可能。

一種檢測引腳懸空狀態的電路，包括：

與待測引腳相連的檢測單元，用于檢測所述待測引腳在接入電源和接地狀態下的阻值；

與所述檢測單元相連的判斷單元，用于比較所述待測引腳在接入電源狀態的阻值和第一預定閾值，得到第一比較結果；以及比較所述待測引腳在接地狀態下的阻值和第二預定閾值，得到第二比較結果。

可選地，所述檢測單元，包括：

第一基準電阻，第二基準電阻，第一開關，第二開關以及電源；

所述第一基準電阻的一端連接所述電源，另一端連接第一開關，所述第一開關的另一端連接所述第二開關，所述第二開關的另一端連接所述第二基準電阻，所述第二基準電阻的另一端接地，所述第一開關和所述第二開關的公共端連接所述待測引腳和所述判斷單元。

可選地，所述判斷單元，包括：

第一比較器和第二比較器；

所述第一比較器的第一輸入端輸入所述待測引腳在接入電源狀態下的阻值，所述第一比較器的第二輸入端輸入所述第一預定閾值，所述第一比較器的輸出端輸出所述第一比較結果；

所述第二比較器的第二輸入段輸入所述待測引腳在接地狀態下的阻值，所述第二比較器的第一輸入端輸入第二預訂閾值，所述第二比較器的輸出端輸出所述第二比較結果。

可選地，還包括：

第一觸發器和第二觸發器；

所述第一觸發器的數據輸入端連接所述第一比較器的輸出端，所述第一觸發器的時鐘輸入端接收電平信號，所述第一觸發器的輸出端輸出第一觸發結果；

所述第二觸發器的數據輸入端連接所述第二比較器的輸出端，所述第二觸發器的時鐘輸入端接收電平信號，所述第二觸發器的輸出端輸出第二觸發結果。

可選地，還包括：

控制門和與所述控制門連接的控制支路；