[發明專利]用于電機調試的裝聯結構有效
| 申請號: | 201811223251.0 | 申請日: | 2018-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN109253175B | 公開(公告)日: | 2021-03-30 |
| 發明(設計)人: | 鄧為 | 申請(專利權)人: | 陜西航空電氣有限責任公司 |
| 主分類號: | F16D1/04 | 分類號: | F16D1/04;H02K7/00 |
| 代理公司: | 北京航信高科知識產權代理事務所(普通合伙) 11526 | 代理人: | 高原 |
| 地址: | 713100 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 電機 調試 聯結 | ||
1.一種用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,包括:
轉接盤(3),與測功機連接;
聯軸節(7),設置在所述轉接盤(3)內,其一端與所述測功機的輸出軸(2)固定連接,另一端設置有盲孔,被試電機(6)的輸出軸設置在所述盲孔內,所述聯軸節(7)的盲孔側壁上設置有通孔,所述被試電機(6)的輸出軸上設置有凹槽;
鍵(10),穿過所述通孔并卡接于所述凹槽內;
卡環(9),套接在所述盲孔外壁上,用于防止所述鍵(10)脫落。
2.根據權利要求1所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述轉接盤(3)的圓心處開設有中心孔,所述聯軸節(7)設置在所述中心孔內。
3.根據權利要求1所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述通孔為方孔。
4.根據權利要求3所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述鍵(10)與所述通孔過盈配合或小間隙配合。
5.根據權利要求4所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述鍵(10)與所述凹槽過盈配合或小間隙配合。
6.根據權利要求1所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述卡環(9)設置在所述鍵(10)的中部。
7.根據權利要求1至6中任一項所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述聯軸節(7)上位于所述卡環(9)的兩側均設置有環形凹槽,在所述環形凹槽內設置有彈性擋圈(8,11)。
8.根據權利要求7所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述彈性擋圈(8,11)為開口環形擋圈。
9.根據權利要求1至6中任一項所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述聯軸節(7)與所述輸出軸(2)通過花鍵連接。
10.根據權利要求1至6中任一項所述的用于電機調試的裝聯結構,其特征在于,所述轉接盤(3)通過測功機接口(1)與所述測功機連接。
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