[發明專利]多合一顯示型LED燈珠模組的快速檢測方法

有效

• 申請號: 201811222441.0
• 申請日: 2018-10-19
• 公開（公告）號: CN109374125B
• 公開（公告）日: 2021-01-19
• 發明（設計）人: 朱干軍;張家堯
• 申請（專利權）人: 義烏臻格科技有限公司
• 主分類號: G01J1/16
• 分類號: G01J1/16
• 代理公司: 合肥市上嘉專利代理事務所(普通合伙) 34125
• 代理人: 李璐

本發明公開了一種多合一顯示型LED燈珠模組的快速檢測方法，包括以下步驟：將多合一顯示型LED燈珠模組置于載臺上；同時對多合一顯示型LED燈珠模組所有子區域內某一顏色的LED芯片供電點亮；測量和記錄該顏色LED芯片的亮度分布情況；將實際光強區域的投影曲線與標準參考強度的光強區域投影曲線進行對比，分析判斷各個LED芯片的良莠狀況；采用相同的方法，分別對其它顏色的LED芯片進行檢測分析。本發明通過不同顏色來對多合一顯示型LED燈珠模組的芯片分組，進行批次測量，通過光強區域在水平面內的投影情況與標準參考強度的光強投影曲線進行對比，快速分析判斷各個顏色LED芯片的良莠狀況，極大提升了LED燈珠模組的檢測效率。

技術領域

本發明涉及LED檢測技術領域，特別是涉及一種多合一顯示型LED燈珠模組的快速檢測方法。

背景技術

隨著LED顯示屏產品精致化，高分辨率，小像素方向發展的要求，顯示型LED燈珠模組的幾何尺寸日趨減小，這給LED燈珠的檢測、編帶分裝、顯示屏組裝和維修帶來了挑戰。

傳統顯示型LED由紅(R)、綠(G)、藍(B)三顆LED芯片鑲嵌在燈珠本體內構成，隨著新型的多合一LED燈珠模組結構出現，將成為未來LED燈珠的趨勢。由圖1所示，多合一顯示型LED燈珠模組構造(四合一為例)：燈珠模組本體平面內平均分成2*2區域，每個子區域獨立完成顯示功能，各子區域內分別鑲嵌紅(R)、綠(G)、藍(B)三顆LED芯片。

LED燈珠需要由光檢設備來通過電流/電壓和出光強度來篩選產品等級，剔除不合格產品。由圖2所示，現有的LED燈珠光檢設備及檢測方法為：LED燈珠(1)加載到測試載臺(3)上，LED燈珠(1)的引腳(2)通過載臺(3)的電極供電，由一個CCD攝像頭(4)或其他光強測量傳感器測量電流的對應發光強度(紅、綠、藍三個光依序獨立測量)。按照測試的電流/電壓和出光強度對應關系標準，來篩分LED燈珠產品。

目前，LED封裝器件分選還是依序逐個點亮每個LED芯片，來量測LED芯片的電流/電壓和出光強度、標定發光效率。新型的多合一LED燈珠仍繼承傳統光檢設備及檢測方法，如圖3所示，以紅色LED芯片光檢為例，在一個2*2的LED燈珠模組里，依次對每個子區域的紅色LED芯片檢測，完成后，再分別對每個子區域的綠色、藍色LED芯片進行篩分檢測。這種時序測量方式每次只能測量一顆LED芯片，對一個2*2的LED燈珠共測4*3＝12次，效率很低，極大地滯后了LED燈珠封裝廠的效率和產能，不能適應當前LED燈珠生產和檢測的需要。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種多合一顯示型LED燈珠模組的快速檢測方法，可大幅度提高LED燈珠模組檢測設備的檢測效率。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種多合一顯示型LED燈珠模組的快速檢測方法，通過同時點亮LED燈珠模組內各子區域的同色LED芯片，由具備亮度分布探測功能的光強探測器測量整顆LED燈珠模組的亮度和亮度分布信息。

具體包括以下步驟：

(1)將多合一顯示型LED燈珠模組放置于光檢設備的載臺上，使多合一顯示型LED燈珠模組的各個引腳分別與載臺上各個供電觸點可靠接觸；

(2)通過載臺上的供電觸點對多合一顯示型LED燈珠模組所有子區域內的某一顏色的LED芯片同時供電，使該顏色的LED芯片同時點亮；

(3)通過光檢設備上的光強探測器測量所有子區域內該顏色LED芯片的亮度，并記錄各個該顏色LED芯片的亮度分布信息；

(4)通過將實際檢測得到的該顏色LED芯片的光強一維分布投影曲線，與標準參考強度的光強一維分布投影曲線進行對比，分析判斷各子區域內該顏色LED芯片的良莠狀況；

(5)重復步驟(2)至(4)，分別對多合一顯示型LED燈珠模組所有子區域內其它顏色的LED芯片進行檢測分析。