[發(fā)明專利]剔除高光反射異常錯(cuò)誤點(diǎn)的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811221720.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109443244B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張旭;李華陽(yáng);朱利民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué)無(wú)錫研究院 |
| 主分類號(hào): | G01B11/25 | 分類號(hào): | G01B11/25 |
| 代理公司: | 無(wú)錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;屠志力 |
| 地址: | 214174 江蘇省無(wú)錫*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 剔除 反射 異常 錯(cuò)誤 方法 | ||
1.一種剔除高光反射異常錯(cuò)誤點(diǎn)的方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S1,通過(guò)激光器對(duì)檢測(cè)對(duì)象掃描,激光器的光刀面自檢測(cè)對(duì)象一側(cè)移動(dòng)至另一側(cè)以完成掃描;掃描時(shí),通過(guò)左右對(duì)稱設(shè)置在激光器兩側(cè)的左相機(jī)、右相機(jī)分別采集得到左圖像和右圖像;左圖像和右圖像均為灰度圖;對(duì)左圖像和右圖像分別進(jìn)行光條中心檢測(cè),將相鄰光條中心連接為一整體,即光條片段中心線,以表征左圖像和右圖像中的光條片段;光條片段為縱向;
步驟S2,對(duì)左圖像和右圖像中光條片段中心線使用長(zhǎng)度相似性約束和起始點(diǎn)相似性約束檢測(cè),剔除虛假對(duì)應(yīng)光條片段,以選出左圖像和右圖像中潛在的對(duì)應(yīng)光條片段;
步驟S3,對(duì)潛在的對(duì)應(yīng)光條片段使用激光亮度約束檢測(cè)和寬度相似性約束檢測(cè),以進(jìn)一步剔除虛假對(duì)應(yīng)光條片段;
步驟S4,對(duì)通過(guò)步驟S2和S3符合立體視覺(jué)的潛在對(duì)應(yīng)光條片段使用光刀面約束檢測(cè),以進(jìn)一步剔除虛假對(duì)應(yīng)光條片段;
步驟S4具體包括:
左相機(jī)坐標(biāo)系oxyz預(yù)先設(shè)定,其中z軸自相機(jī)指向檢測(cè)對(duì)象,y軸向上;
建立激光器坐標(biāo)系OXYZ;激光器坐標(biāo)系OXYZ的Z軸自激光器指向檢測(cè)對(duì)象,Y軸與左相機(jī)坐標(biāo)系oxyz的y軸同向;激光器坐標(biāo)系OXYZ的XOZ平面與左相機(jī)坐標(biāo)系oxyz的xoz平面共面;
預(yù)先標(biāo)定激光器每個(gè)光刀面與X軸的夾角作為該光刀面的旋轉(zhuǎn)角;
對(duì)于左圖像和右圖像中兩條潛在對(duì)應(yīng)光條片段的光條片段中心線的起始點(diǎn),合成一個(gè)三維點(diǎn);
得到合成的三維點(diǎn)在激光器坐標(biāo)系OXYZ的XOZ平面的投影點(diǎn),計(jì)算投影點(diǎn)和激光器坐標(biāo)系OXYZ原點(diǎn)O連線與激光器坐標(biāo)系OXYZ的X軸的夾角α;如果該夾角α與對(duì)應(yīng)標(biāo)定的光刀面旋轉(zhuǎn)角之差小于設(shè)定閾值,則認(rèn)為滿足光刀面約束,否則應(yīng)作為虛假對(duì)應(yīng)光條片段剔除,返回步驟S2,繼續(xù)查找潛在對(duì)應(yīng)光條片段。
2.如權(quán)利要求1所述的剔除高光反射異常錯(cuò)誤點(diǎn)的方法,其特征在于,
步驟S2具體包括:
從左圖像和右圖像中各任選一光條片段,若該兩條光條片段的光條片段中心線所包含的光條中心的數(shù)量差值小于相應(yīng)長(zhǎng)度差閾值,則進(jìn)入起始點(diǎn)相似性約束檢測(cè),否則應(yīng)作為虛假對(duì)應(yīng)光條片段剔除;
通過(guò)長(zhǎng)度相似性約束檢測(cè)后,若該兩條光條片段的光條片段中心線的起始點(diǎn)所在行的數(shù)值之差小于相應(yīng)位置差閾值,則確定該兩條光條片段為潛在的對(duì)應(yīng)光條片段,否則應(yīng)作為虛假對(duì)應(yīng)光條片段剔除。
3.如權(quán)利要求1或2所述的剔除高光反射異常錯(cuò)誤點(diǎn)的方法,其特征在于,
步驟S3具體包括:
若上一步所得兩個(gè)潛在對(duì)應(yīng)光條片段的光條片段中心線的起始點(diǎn)的灰度值之差小于相應(yīng)灰度差閾值,則認(rèn)為兩個(gè)起始點(diǎn)所在的兩個(gè)潛在對(duì)應(yīng)光條片段滿足激光亮度相似性約束,否則不滿足激光亮度相似性約束;
若兩個(gè)潛在對(duì)應(yīng)光條片段的光條片段中心線的起始點(diǎn)所在行大于激光亮度閾值的像素個(gè)數(shù)差小于寬度差閾值,則認(rèn)為滿足寬度相似性約束,否則不滿足寬度相似性約束;
若激光亮度相似性約束和寬度相似性約束均滿足則進(jìn)入下一步,否則應(yīng)剔除虛假對(duì)應(yīng)光條片段,返回步驟S2。
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