[發(fā)明專利]不同型號儀器測定的原油近紅外光譜轉(zhuǎn)換及原油識別方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811219792.6 | 申請日: | 2018-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN111077102B | 公開(公告)日: | 2022-06-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 褚小立;李敬巖;陳瀑;許育鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油化工科學(xué)研究院 |
| 主分類號: | G01N21/359 | 分類號: | G01N21/359 |
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| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 不同 型號 儀器 測定 原油 紅外 光譜 轉(zhuǎn)換 識別 方法 | ||
1.一種不同型號儀器測定的原油近紅外光譜轉(zhuǎn)換方法,包括如下步驟:
(1)取一個原油樣品,在同樣的光譜采集條件下,分別用儀器A和儀器B測定其近紅外光譜,得到原油樣品的近紅外光譜A和近紅外光譜B,
(2)對原油樣品的近紅外光譜A和B進(jìn)行密化插值,并對密化插值后的光譜進(jìn)行二階微分處理,得到密化插值處理后的光譜EA和EB,
(3)將EA和EB按光譜波數(shù)范圍分成s個不同的波段,對每個波段,設(shè)v為光譜移動的采樣點(diǎn)數(shù),先使光譜EA和EB在此波段的光譜完全重疊,v=0,再相對光譜EB,將光譜EA按逐個采樣點(diǎn)右移,直至將光譜EA右移m個采樣點(diǎn),v=m,再相對光譜EA,將光譜EB按逐個采樣點(diǎn)右移,直至將光譜EB右移m個采樣點(diǎn),v=-m,計算每次移動光譜后產(chǎn)生的光譜EA和EB重疊段的平均移動相關(guān)系數(shù)Rx,共計有(2m+1)個平均移動相關(guān)系數(shù),取其中的最大值Rq對應(yīng)的采樣點(diǎn)數(shù)q為光譜移動的采樣點(diǎn)數(shù),若q=0,則不移動任何光譜,若q0,將光譜EB左移q個采樣點(diǎn),若q0,將光譜EB右移q個采樣點(diǎn),轉(zhuǎn)換成與儀器A測試所得光譜一致的光譜,再按A儀器測定光譜的采樣間隔進(jìn)行逆插值處理,得到與A儀器測定光譜吸光度采樣點(diǎn)數(shù)相同的轉(zhuǎn)換光譜FBs,
(4)將s個不同波段的轉(zhuǎn)換光譜FBs,按波數(shù)順序首尾連接,得到將儀器B采集的光譜轉(zhuǎn)換成與儀器A采集光譜一致的轉(zhuǎn)換光譜FB;
光譜重疊段的設(shè)置方法為:在一個波數(shù)為a~b的光譜波段,當(dāng)光譜EA和EB完全重疊時,v=0,對EA光譜,重疊段為EAa~EAb,對EB光譜,重疊段為EBa~EBb, 保持光譜EB不動,將光譜EA相對光譜EB右移v個采樣點(diǎn),對EA光譜,重 疊段為EA(a+vd)~EAb,對EB光譜,重疊段為EBa~EB(b-vd),以此類推,直到將光譜EA相對光譜EB右移m個采樣點(diǎn),對EA光譜,重疊段為EA(a+md)~EAb,對EB光譜,重疊段為EBa~EB(b-md),其中d為采樣間隔的波數(shù);
計算所述光譜某個光譜重疊段X的平均移動相關(guān)系數(shù)Rx,按式(1)計算:
ri為兩個光譜在第i個移動窗口內(nèi)的移動相關(guān)系數(shù),t為兩個光譜在光譜重疊段X內(nèi)的移動窗口總數(shù),i為移動窗口序號;
所述的移動窗口是選擇一個波數(shù)寬度為w的光譜窗口,從需要計算移動相關(guān)系數(shù)的光譜段的第一個波數(shù)采樣點(diǎn)開始移動,每次移動一至多個采樣點(diǎn),為窗口的移動距離,直至最后一個波數(shù)的采樣點(diǎn);
對每個移動窗口,按傳統(tǒng)的相關(guān)系數(shù)計算法由式(2)計算兩個光譜的相關(guān)系數(shù):
(2)
式(2)中,分別為EA和EB兩個光譜所選重疊段內(nèi)吸光度的均值,n為波數(shù)采樣點(diǎn)數(shù),k為波數(shù)采樣序號。
2.按照權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于(1)步中儀器A和儀器B為不同型號的傅里葉變換近紅外光譜儀,采集光譜的波數(shù)范圍為4000~10000cm-1。
3.按照權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于(2)步采用三次樣條插值法對光譜A和B進(jìn)行密化插值,密化插值設(shè)定的采樣點(diǎn)間隔為0.01~0.04cm-1。
4.按照權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于(3)步將密化插值后的光譜EA和EB分成3~5個不同的波段,每個波段所含的波數(shù)為1200~1600個。
5.按照權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于(3)步將密化插值后的光譜EA和EB分成4000~5500cm-1波段、5500~7000cm-1波段、7000~8500cm-1波段和8500~10000cm-1波段。
6.按照權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于(3)步所述的m為10~25。
7.按照權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于(3)步所述的逆插值處理為三次樣條插值法的逆過程。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





