[發(fā)明專利]多終端的測(cè)試方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811216714.0
• 申請(qǐng)日: 2018-10-18
• 公開（公告）號(hào): CN109408309B
• 公開（公告）日: 2019-12-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉闊;安曉江;蔣紅宇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京海泰方圓科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 11291 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 黃志華<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入

1.一種多終端的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

服務(wù)器接收第一類終端發(fā)送的至少一個(gè)第一測(cè)試指令，所述第一測(cè)試指令包括所述第一類終端對(duì)待測(cè)應(yīng)用中目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試事件，所述第一類終端包括已安裝所述待測(cè)應(yīng)用的至少一個(gè)終端；

基于所述測(cè)試事件和所述測(cè)試數(shù)據(jù)，對(duì)所述至少一個(gè)第一測(cè)試指令進(jìn)行去重操作，得到第二測(cè)試指令，所述去重操作用于刪除所述第一測(cè)試指令中重復(fù)的測(cè)試事件或重復(fù)的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述第二測(cè)試指令包括至少一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試事件；

基于存儲(chǔ)的待測(cè)應(yīng)用標(biāo)識(shí)與終端的映射關(guān)系，查找待測(cè)試的第二類終端，所述第二類終端為已安裝所述待測(cè)應(yīng)用的至少一個(gè)終端；

向所述第二類終端發(fā)送所述第二測(cè)試指令；

其中，向第二類終端發(fā)送所述第二測(cè)試指令之后，所述方法還包括：

在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)，接收所述第一類終端和所述第二類終端發(fā)送的至少一個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果；

若相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果均為測(cè)試失敗，則獲取所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；

向所述第一類終端和所述第二類終端發(fā)送調(diào)序后的所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；

若調(diào)序后的測(cè)試指令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果均為測(cè)試成功，則確定所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)在所述第一類終端和所述第二類終端上能正常運(yùn)行。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，接收第一類終端發(fā)送的至少一個(gè)第一測(cè)試指令之前，所述方法還包括：

接收第一類終端和第二類終端發(fā)送的待測(cè)應(yīng)用標(biāo)識(shí)，所述待測(cè)應(yīng)用標(biāo)識(shí)為所述第一類終端和所述第二類終端安裝待測(cè)應(yīng)用生成的標(biāo)識(shí)。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，確定所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)在所述第一類終端和所述第二類終端上能正常運(yùn)行之后，所述方法還包括：

獲取所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令的邏輯信息，所述邏輯信息包括相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令和所述測(cè)試指令間的邏輯關(guān)系。

4.一種測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括：接收單元、去重單元、查找單元和發(fā)送單元；

所述接收單元，用于接收第一類終端發(fā)送的至少一個(gè)第一測(cè)試指令，所述第一測(cè)試指令包括所述第一類終端對(duì)待測(cè)應(yīng)用中目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試事件，所述第一類終端包括已安裝所述待測(cè)應(yīng)用的至少一個(gè)終端；

所述去重單元，用于基于所述測(cè)試事件和所述測(cè)試數(shù)據(jù)，對(duì)所述至少一個(gè)第一測(cè)試指令進(jìn)行去重操作，得到第二測(cè)試指令，所述去重操作用于刪除所述至少一個(gè)第一測(cè)試指令中重復(fù)的測(cè)試事件或重復(fù)的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述第二測(cè)試指令包括至少一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試事件；

所述查找單元，用于基于存儲(chǔ)的待測(cè)應(yīng)用標(biāo)識(shí)與終端的映射關(guān)系，查找待測(cè)試的第二類終端，所述第二類終端為已安裝所述待測(cè)應(yīng)用的至少一個(gè)終端；

所述發(fā)送單元，用于向第二類終端發(fā)送所述第二測(cè)試指令；

其中，所述裝置還包括獲取單元和確定單元；

所述接收單元，還用于在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)，接收所述第一類終端和所述第二類終端發(fā)送的至少一個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果；

所述獲取單元，用于若相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果均為測(cè)試失敗，則獲取所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；

所述發(fā)送單元，還用于向所述第一類終端和所述第二類終端發(fā)送調(diào)序后的所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；

所述確定單元，用于若調(diào)序后的測(cè)試指令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果均為測(cè)試成功，則確定所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)在所述第一類終端和所述第二類終端上能正常運(yùn)行。

5.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述接收單元，還用于接收第一類終端和第二類終端發(fā)送的待測(cè)應(yīng)用標(biāo)識(shí)，所述待測(cè)應(yīng)用標(biāo)識(shí)為所述第一類終端和所述第二類終端安裝待測(cè)應(yīng)用生成的標(biāo)識(shí)。

6.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元，還用于獲取所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令的邏輯信息，所述邏輯信息包括所述相鄰兩個(gè)目標(biāo)測(cè)試節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令和所述測(cè)試指令間的邏輯關(guān)系。