[發明專利]對逆合成孔徑雷達ISAR的批量成像質量評估方法在審
| 申請號: | 201811216249.0 | 申請日: | 2018-10-18 |
| 公開(公告)號: | CN109523514A | 公開(公告)日: | 2019-03-26 |
| 發明(設計)人: | 張磊;許濤;張曼;周葉劍 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 王品華;朱紅星 |
| 地址: | 710071 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 逆合成孔徑雷達 卷積神經網絡 支持向量機 成像 樣本 特征輸入 質量評估 分類 耗時 雷達 質量評估結果 圖像 測試樣本 人工視覺 提取特征 圖像特征 訓練樣本 建模 可用 貼上 標簽 測試 檢測 | ||
1.一種對逆合成孔徑雷達ISAR的批量成像質量評估方法,其特征在于,包括如下:
(1)對N幅ISAR圖像由人工視覺分為“優”、“良”、“中”和“差”這4類,每類圖像的個數為n,N≥960,n≥240;
(2)給人工分類的ISAR圖像貼上不同的標簽,即“優”的標簽為“1”,“良”的標簽為“2”,“中”的標簽為“3”,“差”的標簽為“4”;
(3)選取4類帶標簽的ISAR圖像的一半作為訓練樣本,輸入到卷積神經網絡CNN中進行訓練,得到訓練好的卷積神經網絡CNN′,并提取出所有類別的圖像的特征μ;
(4)將提取得到的特征μ輸入到不同正則化系數λ下的支持向量機SVM中進行訓練,得到訓練好的支持向量機SVMs′,進而得到訓練樣本的4種實際分類結果;
(5)將訓練樣本的實際分類結果與標簽對比,確定最優的正則化系數λ′,得到最終訓練好的支持向量機SVM′;
(6)選取(2)中4類帶標簽的ISAR圖像的另一半作為測試樣本,輸入到經(3)訓練好的卷積神經網絡CNN′中進行特征提取,提取出所有類別的圖像特征κ;
(7)將(6)中提取得到的特征κ輸入最終訓練好的支持向量機SVM′中進行分類,得到對逆合成孔徑雷達ISAR的批量成像質量評估結果。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,在(1)中對N幅ISAR圖像由人工視覺分為4類,其分類標準如下:
“優”,是指整體結構清晰可分辨,即聚焦良好;
“良”,是指整體結構可分辨,即聚焦一般;
“中”,是指整體結構模糊,局部結構可分辨,即聚焦較差;
“差”,是指整體結構不可分辨,局部結構不可分辨,即聚焦很差。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于(3)中的利用訓練樣本對卷積神經網絡CNN進行訓練,其實現如下:
(3a)選擇由一個輸入層、兩個卷積層、兩個采樣層、一個全連接層和一個輸出層組成的7層CNN網絡,且每個卷積層的大小為5×5的卷積窗口,每個采樣層采用均值采樣;
(3b)設置各層之間的激活函數采用sigmoid函數,其具體形式為:其中z為每一層的輸入,e為自然常數;
(3c)設輸入層的圖像大小為32×32,使其先經過第一卷積層后得到6個28×28的特征圖,再經過第一采樣層得到6個14×14的特征圖,再經過第二卷積層得到16個10×10的特征圖,最后經第二采樣層2采樣得到16個5×5的特征圖,輸入給全連接層;
(3d)全連接層將16個5×5的特征圖展開成一個16×5×5的向量,輸入給輸出層,得到分類x是正確分類的預測概率q(x),取值范圍為(0,1);
(3e)設置卷積神經網絡CNN的損失函數H(p,q)為交叉熵形式,即:其中,p(x)表示分類x是正確分類的先驗概率,其取值為0或1;q(x)表示分類x是正確分類的預測概率,取值范圍為(0,1);
(3f)應用反向傳播BP算法優化損失函數H(p,q),得到訓練好的卷積神經網絡CNN′。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于(4)中的利用提取得到的特征μ對支持向量機SVM進行訓練,其實現如下:
(4a)對支持向量機SVM設置不同的正則化系數λ;
(4b)損失函數采用Crammer和Singer提出的用于多分類的鉸鏈損失形式,即:其中y是分類x的標簽,t是不等于y的標簽,wt是選擇t標簽的超平面參數,wy是選擇y標簽的超平面參數;
(4c)采用Limited-memory BFGS優化算法對(4b)中的損失函數l(y)進行優化,得到訓練好的不同正則化系數λ所對應的支持向量機SVMs′。
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