[發(fā)明專利]檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811211279.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109374647A | 公開(公告)日: | 2019-02-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李軍旗;蔣益民;王樹華;張敬東;徐文武;史俊鴻;高雪松;駱典;文茜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 基準(zhǔn)精密工業(yè)(惠州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334 | 代理人: | 唐芳芳;饒智彬 |
| 地址: | 516100 廣東省惠州市博*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 旋轉(zhuǎn)臺(tái) 光源 調(diào)整機(jī)構(gòu) 刀具 拍攝機(jī)構(gòu) 讀寫器 刀具旋轉(zhuǎn) 固定刀具 檢測(cè)裝置 底座 相機(jī) 多次反射光線 讀取 控制器電性 控制器控制 半球腔體 相機(jī)拍攝 相鄰設(shè)置 控制器 半球狀 開口端 種檢測(cè) 打光 內(nèi)壁 陰影 拍攝 檢測(cè) | ||
1.一種檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)刀具外觀,其特征在于:所述檢測(cè)裝置包括調(diào)整機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)、拍攝機(jī)構(gòu)、讀寫器、底座及控制器;所述調(diào)整機(jī)構(gòu)和所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)相鄰設(shè)于所述底座上,所述拍攝機(jī)構(gòu)設(shè)于所述調(diào)整機(jī)構(gòu)上,并朝向所述旋轉(zhuǎn)臺(tái),所述讀寫器朝向所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)設(shè)置,所述控制器分別與所述調(diào)整機(jī)構(gòu)、所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)、所述拍攝機(jī)構(gòu)、所述讀寫器電性連接;所述調(diào)整機(jī)構(gòu)用于調(diào)整所述拍攝機(jī)構(gòu)的位置,所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)用于固定所述刀具并帶動(dòng)所述刀具旋轉(zhuǎn),所述拍攝機(jī)構(gòu)包括相機(jī)及光源,所述光源呈半球腔體狀,所述光源的開口端朝向所述旋轉(zhuǎn)臺(tái),所述相機(jī)上設(shè)有一朝向所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)的鏡頭,所述讀寫器用于讀取所述刀具的信息并發(fā)送給所述控制器,所述控制器能夠根據(jù)所述信息控制所述調(diào)整機(jī)構(gòu)調(diào)整所述拍攝機(jī)構(gòu)的位置,控制所述光源開啟并調(diào)整照明亮度,控制所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)帶動(dòng)所述刀具旋轉(zhuǎn),控制所述相機(jī)拍攝所述刀具并處理拍攝的圖像,以檢測(cè)刀具的外觀。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述檢測(cè)裝置還包括遮光罩,所述遮光罩罩設(shè)于所述調(diào)整機(jī)構(gòu)、所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)和所述拍攝機(jī)構(gòu)上。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述遮光罩的一面靠近所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)的一側(cè)為開口,以便于所述刀具的上下料。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述調(diào)整機(jī)構(gòu)包括第一移動(dòng)件、第二移動(dòng)件及第三移動(dòng)件,所述第一移動(dòng)件設(shè)于所述底座上,且能夠沿靠近或遠(yuǎn)離所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)的方向運(yùn)動(dòng),所述第二移動(dòng)件垂直連接于所述第一移動(dòng)件,且能夠沿與所述第一移動(dòng)件的運(yùn)動(dòng)方向垂直的方向上運(yùn)動(dòng),所述第三移動(dòng)件設(shè)于所述第二移動(dòng)件上,并朝向所述旋轉(zhuǎn)臺(tái),所述第三移動(dòng)件能夠沿分別與所述第一移動(dòng)件及第二移動(dòng)件的運(yùn)動(dòng)方向垂直的方向運(yùn)動(dòng)。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述底座為大理石防震臺(tái)。
6.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述控制器包括處理器和存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器中預(yù)存有所述刀具的信息及與所述信息對(duì)應(yīng)的所述調(diào)整機(jī)構(gòu)的位置調(diào)整方案、所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)的旋轉(zhuǎn)方案、所述相機(jī)的拍攝參數(shù)調(diào)整方案和所述光源的打光方案,以供所述處理器調(diào)取。
7.如權(quán)利要求6所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述相機(jī)還用于將所述圖像的處理結(jié)果的數(shù)據(jù)發(fā)送給所述處理器,所述處理器將所述數(shù)據(jù)發(fā)送至所述存儲(chǔ)器及所述讀寫器,所述讀寫器將所述數(shù)據(jù)寫入所述刀具。
8.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述光源為球積分LED光源。
9.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述讀寫器為無線射頻讀寫器。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





