[發明專利]一種液晶氣泡分析方法及分析裝置

在審

• 申請號: 201811208045.2
• 申請日: 2018-10-17
• 公開（公告）號: CN109212794A
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發明（設計）人: 陳清清;張小新;蔡榮茂;莊益壯;盧文平
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01N21/17
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發明提供一種液晶氣泡分析方法，包括：將液晶面板放置于暗室內；打開發光件，將有液晶氣泡的位置對位到發光件的出光口，發光件的出光口發出的入射光穿過液晶氣泡后射出液晶面板；通過量測機構測量記錄入射光射入液晶面板的入射角度和射出液晶面板的出射角度，所述入射角度所對應的數據和所述出射角度所對應的數據用于計算所述液晶氣泡的成分。有益效果：通過比對入射角度和出射角度，從而計算確定液晶氣泡成分，準確性較高，可有效確認面內液晶氣泡成分，從而利于對液晶氣泡異常的改善。

技術領域

本發明涉及液晶面板檢測技術領域，尤其涉及一種液晶氣泡分析方法及分析裝置。

背景技術

現有的液晶面板主要由彩色濾光片玻璃基板(Color Filter，CF)和薄膜晶體管玻璃基板(Thin Flim Transimitor，TFT)組成，兩玻璃基板間灌入液晶(LC)，并用框膠密封四周。

在液晶面板的生產過程及后續存儲、使用過程中常常出現液晶氣泡(LC Bubble)現象。目前現有的液晶氣泡分析方法有：1、通過顯微鏡觀察框膠是否斷裂、穿刺、剝離，是否破片等；2、通過加熱冷卻觀察氣泡變化判斷；3、通過紅墨水浸泡方式確認是否外部滲入。

現有的液晶氣泡分析方法雖然可確認比較明顯的異常造成的液晶氣泡，但是在遇到面內氣泡時，無法確認氣泡的具體成分，不利于液晶氣泡異常的改善。

發明內容

本發明提供一種液晶氣泡分析方法，以解決無法確認面內氣泡的具體成分的技術問題。

為解決上述問題，本發明提供的技術方案如下：

一種液晶氣泡分析方法，包括：

S10、將液晶面板放置于暗室內；

S20、打開發光件，將有液晶氣泡的位置對位到發光件的出光口，發光件的出光口發出的入射光穿過液晶氣泡后射出液晶面板；

S30、通過量測機構測量記錄入射光射入液晶面板的入射角度和射出液晶面板的出射角度，所述入射角度所對應的數據和所述出射角度所對應的數據用于計算所述液晶氣泡的成分。

優選的，在所述入射角度與所述出射角度的角度相同的情況下，所述氣泡內為真空。

優選的，在所述入射角度與所述出射角度的角度不相同的情況下，所述液晶氣泡內為空氣。

優選的，所述入射角度所對應的數據和所述出射角度所對應的數據用于計算所述液晶氣泡內的空氣的成分。

優選的，在所述步驟S10之前，所述液晶氣泡分析方法還包括：

S40、去掉位于液晶氣泡上方和下方的偏光片。

優選的，在步驟S10之后，且步驟S20之前，所述液晶氣泡分析方法還包括：

S50、將暗室抽真空。

優選的，所述入射光為單束光。

優選的，將所述液晶面板水平放置。

優選的，在所述步驟S20之前，所述液晶氣泡分析方法還包括：

S70、將所述發光件置于液晶面板下方或上方。

本發明還提供一種液晶氣泡分析裝置，包括用于提供黑暗的測量環境的暗室、用于發出入射光的發光件以及用于測量入射光射入液晶面板的入射角度和射出液晶面板的出射角度的量測機構。

本發明的有益效果為：通過比對入射角度和出射角度，從而計算確定液晶氣泡成分，準確性較高，可有效確認面內液晶氣泡成分，從而利于對液晶氣泡異常的改善。

附圖說明