[發明專利]一種嵌入式核測試封裝掃描鏈設計方法有效
| 申請號: | 201811207917.3 | 申請日: | 2018-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN109188257B | 公開(公告)日: | 2021-08-27 |
| 發明(設計)人: | 周甜;胡聰;朱望純;朱愛軍;許川佩;陳濤 | 申請(專利權)人: | 桂林電子科技大學 |
| 主分類號: | G01R31/3185 | 分類號: | G01R31/3185 |
| 代理公司: | 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 石燕妮 |
| 地址: | 541004 廣西*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 嵌入式 測試 封裝 掃描 設計 方法 | ||
1.一種嵌入式核測試封裝掃描鏈設計方法,其特征在于,該方法包括:
步驟(1):算法初始化:根據嵌入式核的集合,設置解空間的維數為Dim,設置封裝掃描鏈數為N,設置種群大小為M,設置最大迭代次數為T;
步驟(2):解初始化:設置蜻蜓種群Xi,Xi表示第i個蜻蜓的位置,設置步長向量ΔXi,i=1,2,...,n;
步驟(3):判斷是否滿足結束條件,其中,結束條件為:迭代次數T,若滿足,則繼續,否則轉到步驟(12);
步驟(4):估計所有蜻蜓的目標函數max(si,so)的值,其中max表示取最大值,si表示最長掃描輸入鏈的長度,so表示最長掃描輸出鏈的長度;
步驟(5):調整食物源和敵人;
步驟(6):調整個體的分離度S、個體的走向A、個體的凝聚力C、個體的食物F、個體的敵人的位置D和權重w;
步驟(7):對S、A、C、F和D進行評估;
步驟(8):調整鄰域半徑,即領域半徑隨著迭代次數的增加而收斂;
步驟(9):調整位置向量;
步驟(10):根據變量的邊界驗證和修改新的位置,如果新位置的值小于1,則將其值設為1,如果大于N,則將其值設置為N;
步驟(11):轉到步驟(3);
步驟(12):輸出結果。
2.根據權利要求1所述的一種嵌入式核測試封裝掃描鏈設計方法,其特征在于,在所述估計所有蜻蜓的目標函數max(si,so)的值的步驟后,還包括執行修復操作符。
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