[發(fā)明專利]一種基于機(jī)器視覺的光纖幾何參數(shù)檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811207895.0 | 申請日: | 2018-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN109341524A | 公開(公告)日: | 2019-02-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳曉榮;劉亞茹;石高輝;張彩霞;李鎮(zhèn)鋒 | 申請(專利權(quán))人: | 上海理工大學(xué) |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 上海邦德專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31312 | 代理人: | 袁步蘭 |
| 地址: | 200093 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像 光纖幾何參數(shù) 涂覆層 外邊緣 擬合 基于機(jī)器 曲線擬合 包層的 內(nèi)邊緣 求解 預(yù)處理 視覺 圖像采集裝置 光纖橫截面 牛頓迭代法 邊緣曲線 邊緣圖像 標(biāo)準(zhǔn)化法 二次曲線 減少干擾 求解模型 橢圓參數(shù) 橢圓擬合 不圓度 方程法 擬合法 橢圓 檢測 高斯 并用 改進(jìn) | ||
本發(fā)明提出了一種基于機(jī)器視覺的光纖幾何參數(shù)檢測方法,包括對圖像采集裝置獲取的光纖橫截面圖像進(jìn)行預(yù)處理、提取涂覆層的外邊緣圖像、提取涂覆層的內(nèi)邊緣圖像和包層的外邊緣圖像;運(yùn)用圓形擬合發(fā)和橢圓擬合法,對涂覆層的外邊緣圖像、涂覆層的內(nèi)邊緣圖像及包層的外邊緣圖像均進(jìn)行圓形擬合和橢圓擬合,以獲取各圖像對應(yīng)的圓形參數(shù)和橢圓參數(shù)、運(yùn)用光纖幾何參數(shù)求解模型,分別求解邊緣圖像對應(yīng)的直徑和不圓度。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)為:采用改進(jìn)的Canny算法,可以減少干擾邊緣有利于曲線擬合;二次曲線標(biāo)準(zhǔn)化法和齊次方程法相結(jié)合的方法對邊緣進(jìn)行曲線擬合,并用高斯?牛頓迭代法求解光纖幾何參數(shù),提高了邊緣曲線擬合的精確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于幾何量檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于機(jī)器視覺的光纖幾何參數(shù)檢測方法。
背景技術(shù)
目前,光線已經(jīng)廣泛應(yīng)用在科研、電信、傳感、監(jiān)視等領(lǐng)域,是國家重點(diǎn)扶持和大力開展的新型產(chǎn)業(yè)。其中,光線的幾何參數(shù)如包層直徑、包層不圓度、涂覆層直徑、涂覆層不圓度等對光纖傳感和光纖通信等領(lǐng)域的研究至關(guān)重要。此外,在光纖生產(chǎn)中,光纖的幾何參數(shù)帶來的誤差對光纖間的耦合效率起著決定性的影響。
目前已經(jīng)提出了很多光纖幾何參數(shù)檢測方法,如人工判讀為主的放大法、以光纖傳輸成像為主的折射近場法和近場掃描法等,但都存在著一定的缺陷:1)人工判讀為主的放大法,檢測精度低;2)折射近場法利用光纖折射率分布計算光纖參數(shù)分布計算光纖參數(shù),近場掃描法是對近場放大像面進(jìn)行掃描,測得近場強(qiáng)度分布掃描圖,從而擬合光纖參數(shù)。這兩種方法實驗裝置復(fù)雜,測量過程不直觀。因此工業(yè)上亟需能夠研究一種快速、高效、自動化程度高的檢測方法具有重要意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于機(jī)器視覺的光纖幾何參數(shù)檢測方法,其檢測速度快、檢測精度高。為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
一種基于機(jī)器視覺的光纖幾何參數(shù)檢測方法,包括以下步驟:
S1:對圖像采集裝置獲取的光纖橫截面圖像進(jìn)行預(yù)處理:所述光纖橫截面包括涂覆層、包層和纖芯;
S2:確定分割閾值,對預(yù)處理后的光纖橫截面圖像進(jìn)行閾值分割,提取涂覆層的外邊緣圖像;
S3:分別運(yùn)用改進(jìn)的Canny算法對涂覆層的內(nèi)邊緣和包層的外邊緣進(jìn)行邊緣檢測以提取涂覆層的內(nèi)邊緣圖像和包層的外邊緣圖像;
S4:運(yùn)用圓形擬合發(fā)和橢圓擬合法,對涂覆層的外邊緣圖像、涂覆層的內(nèi)邊緣圖像及包層的外邊緣圖像均進(jìn)行圓形擬合和橢圓擬合,以獲取各圖像對應(yīng)的圓形參數(shù)和橢圓參數(shù);
S5:分別將步驟S4中的圓形參數(shù)和橢圓參數(shù)作為輸入?yún)?shù),運(yùn)用光纖幾何參數(shù)求解模型,分別求解步驟S4中各圖像對應(yīng)的直徑和不圓度。
優(yōu)選地,在步驟S1中,所述預(yù)處理包括灰度變換、平滑處理及銳化處理。
優(yōu)選地,在步驟S2中,運(yùn)用最大類間方差法確定分割閾值。
優(yōu)選地,所述最大類間方差法具體為:
S21:運(yùn)用累加法計算像素的灰度值屬于暗背景的概率p1和像素的灰度值屬于亮物體的概率p2;其中,pi為圖像灰度級i出現(xiàn)的概率,k為圖像分割閾值,L為圖像的灰度級;
S22:根據(jù)p1、p2計算出暗背景區(qū)域的平均灰度值g1和亮物體區(qū)域的平均灰度值g2;其中,
S23:根據(jù)平均灰度值,可計算出圖像的類間方差計算閾值范圍[0,L-1]的類間方差,以最大的類間方差對應(yīng)的閾值作為分割閾值。
優(yōu)選地,在步驟S3中,提取涂覆層的內(nèi)邊緣圖像具體步驟為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海理工大學(xué),未經(jīng)上海理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811207895.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 彩色圖像和單色圖像的圖像處理
- 圖像編碼/圖像解碼方法以及圖像編碼/圖像解碼裝置
- 圖像處理裝置、圖像形成裝置、圖像讀取裝置、圖像處理方法
- 圖像解密方法、圖像加密方法、圖像解密裝置、圖像加密裝置、圖像解密程序以及圖像加密程序
- 圖像解密方法、圖像加密方法、圖像解密裝置、圖像加密裝置、圖像解密程序以及圖像加密程序
- 圖像編碼方法、圖像解碼方法、圖像編碼裝置、圖像解碼裝置、圖像編碼程序以及圖像解碼程序
- 圖像編碼方法、圖像解碼方法、圖像編碼裝置、圖像解碼裝置、圖像編碼程序、以及圖像解碼程序
- 圖像形成設(shè)備、圖像形成系統(tǒng)和圖像形成方法
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像編碼程序、圖像解碼裝置、圖像解碼方法及圖像解碼程序
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像編碼程序、圖像解碼裝置、圖像解碼方法及圖像解碼程序





