[發明專利]分光測定裝置及分光測定方法

在審

• 申請號: 201811207370.7
• 申請日: 2015-11-19
• 公開（公告）號: CN109341857A
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 鈴木健吾;井口和也
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: G01J3/36
• 分類號: G01J3/36
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦

1.一種分光測定裝置，其特征在于，

具備：

積分器，其具有配置有測定對象物的內部空間、將光自外部輸入到所述內部空間的光輸入部、及將光自所述內部空間輸出至外部的光輸出部；

第1分光檢測器，其對自所述光輸出部輸出的光中的第1波段的光進行分光，而取得經第1曝光時間的第1光譜數據；

第2分光檢測器，其對自所述光輸出部輸出的光中的與所述第1波段一部分重疊的第2波段的光進行分光，而取得經第2曝光時間的第2光譜數據；及

解析部，其基于所述第1曝光時間及所述第2曝光時間而解析所述第1光譜數據及所述第2光譜數據，

所述第2波段的波長長于所述第1波段的波長，所述第2曝光時間長于所述第1曝光時間。

2.如權利要求1所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述解析部存儲基于作為所述第1波段與所述第2波段重疊的波段的共同波段中的所述第1光譜數據及所述第2光譜數據而算出的修正值。

3.如權利要求2所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述解析部基于所述修正值、以及所述第1曝光時間及所述第2曝光時間而修正所述第1光譜數據及所述第2光譜數據中的至少一者，而求出包含所述第1波段及所述第2波段這兩者的全波段的光譜。

4.如權利要求2所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述解析部

在通過激發光的入射而射出發生光的測定對象物未配置于所述內部空間的狀態下，所述激發光自所述積分器的所述光輸入部被輸入到所述內部空間時，基于所述第1光譜數據而求得激發光波段的光子數，且基于所述第2光譜數據而求得發生光波段的光子數；

在所述測定對象物配置于所述內部空間的狀態下，所述激發光自所述積分器的所述光輸入部被輸入到所述內部空間時，基于所述第1光譜數據而求得激發光波段的光子數，且基于所述第2光譜數據而求得發生光波段的光子數；

基于這些光子數及所述修正值、以及所述第1曝光時間及所述第2曝光時間而評價所述測定對象物的發光效率。

5.一種分光測定方法，其特征在于，

是使用具有配置有測定對象物的內部空間、自外部將光輸入到所述內部空間的光輸入部、及自所述內部空間將光輸出至外部的光輸出部的積分器，進行分光測定的方法，

使光自所述積分器的所述光輸入部輸入到所述內部空間，

通過第1分光檢測器，對自所述光輸出部輸出的光中的第1波段的光進行分光，而取得經第1曝光時間的第1光譜數據，

通過第2分光檢測器，對自所述光輸出部輸出的光中的與所述第1波段一部分重疊的第2波段的光進行分光，而取得經第2曝光時間的第2光譜數據，

通過解析部，基于所述第1曝光時間及所述第2曝光時間而解析所述第1光譜數據及所述第2光譜數據，

所述第2波段的波長長于所述第1波段的波長，所述第2曝光時間長于所述第1曝光時間。

6.如權利要求5所述的分光測定方法，其特征在于，

通過所述解析部，存儲基于作為所述第1波段與所述第2波段重疊的波段的共同波段中的所述第1光譜數據及所述第2光譜數據而算出的修正值。

7.如權利要求6所述的分光測定方法，其特征在于，

通過所述解析部，基于所述修正值、以及所述第1曝光時間及所述第2曝光時間而修正所述第1光譜數據及所述第2光譜數據中的至少一者，而求出包含所述第1波段及所述第2波段這兩者的全波段的光譜。

8.如權利要求6所述的分光測定方法，其特征在于，

通過所述解析部，

在通過激發光的入射而射出發生光的測定對象物未配置于所述內部空間的狀態下，所述激發光自所述積分器的所述光輸入部被輸入到所述內部空間時，基于所述第1光譜數據而求得激發光波段的光子數，且基于所述第2光譜數據而求得發生光波段的光子數；

在所述測定對象物配置于所述內部空間的狀態下，所述激發光自所述積分器的所述光輸入部被輸入到所述內部空間時，基于所述第1光譜數據而求得激發光波段的光子數，且基于所述第2光譜數據而求得發生光波段的光子數；

基于這些光子數及所述修正值、以及所述第1曝光時間及所述第2曝光時間而評價所述測定對象物的發光效率。