[發(fā)明專利]目標匹配方法及裝置

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201811205632.6
• 申請日: 2018-10-16
• 公開（公告）號: CN111062400A
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發(fā)明（設計）人: 楊愛勝
• 申請（專利權）人: 浙江宇視科技有限公司
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46;G06K9/32;G06N3/04
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 唐維虎

1.一種目標匹配方法，其特征在于，應用于電子設備，所述方法包括：

從目標圖像中獲取目標的多個關鍵特征區(qū)域；

將所述多個關鍵特征區(qū)域輸入到預先訓練的深度網(wǎng)絡模型中，得到各個關鍵特征區(qū)域的特征向量；

基于所述各個關鍵特征區(qū)域的特征向量從待檢索數(shù)據(jù)集中獲取匹配結果。

2.根據(jù)權利要求1所述的目標匹配方法，其特征在于，所述從目標圖像中獲取目標的多個關鍵特征區(qū)域的步驟，包括：

從所述目標圖像中獲取所述目標對應的目標圖像區(qū)域；

從目標圖像中獲取所述目標的定位點；

根據(jù)所述定位點對所述目標圖像進行矯正，得到矯正后的圖像區(qū)域；

根據(jù)預設的提取區(qū)域劃定標準，從所述矯正后的圖像區(qū)域中獲取所述目標的多個關鍵特征區(qū)域。

3.根據(jù)權利要求2所述的目標匹配方法，其特征在于，所述定位點包括至少四個基準點，所述根據(jù)所述定位點對所述目標圖像進行矯正，得到矯正后的圖像區(qū)域的步驟，包括：

根據(jù)所述至少四個基準點與每個基準點對應的定位點約束條件生成對應的仿射變換矩陣，其中，每個所述仿射變換矩陣對應四個所述基準點；

基于所述仿射變換矩陣對所述目標圖像區(qū)域進行矯正，得到矯正后的目標圖像區(qū)域。

4.根據(jù)權利要求1所述的目標匹配方法，其特征在于，所述深度網(wǎng)絡模型包括由多個卷積層組成的卷積層組，所述將所述多個關鍵特征區(qū)域輸入到預先訓練的深度網(wǎng)絡模型中，得到各個關鍵特征區(qū)域的特征向量的步驟，包括：

對于所述多個關鍵特征區(qū)域，將該關鍵特征區(qū)域輸入到所述深度網(wǎng)絡模型，依次經(jīng)過每個卷積層特征提取得到每個卷積層對應的該關鍵特征區(qū)域的特征圖像，并將最后一個卷積層提取得到的該關鍵特征區(qū)域的特征圖像作為該關鍵特征區(qū)域的特征向量，以得到各個關鍵特征區(qū)域的特征向量。

5.根據(jù)權利要求4所述的目標匹配方法，其特征在于，所述卷積層組包括具有采樣功能的卷積層，所述依次經(jīng)過每個卷積層特征提取得到每個卷積層對應的該關鍵特征區(qū)域的特征圖像的步驟，包括：

在當前進行特征提取的卷積層為所述具有采樣功能的卷積層時，通過該具有采樣功能的卷積層對上一層卷積層提取得到的特征圖像的每個通道圖像進行采樣，以改變每個通道圖像的尺寸，并同時對該特征圖像進行特征提取，以輸出對應的該關鍵特征區(qū)域的特征圖像。

6.根據(jù)權利要求4所述的目標匹配方法，其特征在于，所述卷積層組包括按照預設順序排列的點卷積層和深度卷積層，所述依次經(jīng)過每個卷積層特征提取得到每個卷積層對應的該關鍵特征區(qū)域的特征圖像的步驟，包括：

在當前進行特征提取的卷積層為所述點卷積層時，通過該點卷積層對上一層卷積層對應的特征圖像中的每個通道圖像進行組合特征提取，并根據(jù)特征提取結果獲得組合特征提取后的通道圖像，以輸出對應的該關鍵特征區(qū)域的特征圖像；

在當前進行特征提取的卷積層為所述深度卷積層時，通過該深度卷積層對上一層卷積層對應的特征圖像中的每個通道圖像進行對應特征提取，并根據(jù)特征提取結果更新每個通道圖像，以輸出對應的該關鍵特征區(qū)域的特征圖像。