[發明專利]邁克爾遜干涉儀測量系統的改造

在審

• 申請號: 201811201596.6
• 申請日: 2018-10-16
• 公開（公告）號: CN109373891A
• 公開（公告）日: 2019-02-22
• 發明（設計）人: 王旗;朱盼盼;朱雨蓮;胡廣興
• 申請（專利權）人: 東北大學
• 主分類號: G01B9/02
• 分類號: G01B9/02;G01N21/45;G09B23/22
• 代理公司: 沈陽東大知識產權代理有限公司 21109
• 代理人: 梁焱

邁克爾遜干涉儀測量系統的改造屬于教學儀器、科研儀器技術領域，包括鑄鐵底座、調節螺釘、機械臺面、齒輪系統、手輪、微動鼓輪、讀數窗、精密絲杠、平面鏡、平面鏡、補償鏡B、分束鏡A、移動平臺、調節螺絲、數顯尺和凹槽，通過將移動平臺和數顯尺在機械臺面上的安裝，在不帶鎖的邁克爾遜干涉儀手輪粗調后，松擰移動平臺上的調節螺絲，手動調節移動平臺在滑軌上的位置，使得數顯尺的探頭與M₂平面鏡平臺端面接觸，再次調節M₂平面鏡平臺的位置，通過數顯尺完成讀數，在實驗過程中，通過調節移動平臺的位置，大大的降低了實驗難度，確保大部分經驗不多的人能夠完成儀器操作，并成功完成讀數。

技術領域

本發明屬于教學儀器、科研儀器技術領域，具體涉及邁克爾遜干涉儀測量系統的改造。

背景技術

邁克遜干涉儀是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”飄移而設計制造出來的精密光儀器。它是利用分振幅發產生雙光束以實現干涉，通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾斜干涉條紋，主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M₂的動臂移動量為λ/2，等效于M₁與M₂之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要作用。

通常邁克爾遜干涉儀分為帶鎖和不帶鎖兩種，一般帶鎖的邁克爾遜干涉儀可以保證手輪和微動鼓輪的對應關系，但操作復雜不易掌握，學生在實驗過程中往往都因為操作不當導致實驗失敗；不帶鎖的邁克爾遜干涉儀，其手輪和微動鼓輪駕靠摩擦傳動，每粗調一次手輪，而微動鼓輪是不動的，二者就沒有對應關系而產生錯位，導致無法讀數。

發明內容

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

邁克爾遜干涉儀測量系統的改造，包括鑄鐵底座，所述鑄鐵底座底部設置有三個調節螺釘，所述鑄鐵底座頂部設置有機械臺面，機械臺面一端設置有齒輪系統，齒輪系統外殼側壁設置有手輪和微動鼓輪，所述手輪軸線與微動鼓輪軸線垂直設置，所述齒輪系統外殼頂部設置有讀數窗，所述機械臺面上設置有精密絲杠，且精密絲杠與齒輪系統相連，所述機械臺面頂部通過精密絲杠和滑軌滑動安裝有M₂平面鏡，所述機械臺面頂部靠近齒輪系統一端設置有M₁平面鏡、補償鏡B和分束鏡A，且分束鏡A一個表面鍍有半發射金屬膜，所述滑軌上設置有移動平臺，且移動平臺位于M₂平面鏡外端，移動平臺通過調節螺釘與滑軌固定安裝，所述移動平臺頂部設置有數顯尺。

所述數顯尺的上表面與M₂平面鏡平臺上表面平齊。

所述移動平臺中部設置有凹槽，且精密絲杠貫穿凹槽。

所述補償鏡B和分束鏡A平行設置，所述M₂平面鏡與所述M₁平面鏡垂直設置，且M₂平面鏡與補償鏡B之間呈45度角設置，所述M₁平面鏡與分束鏡A之間呈45度角設置。

本發明的有益效果，通過將移動平臺和數顯尺在機械臺面上的安裝，在不帶鎖的邁克爾遜干涉儀手輪粗調后，松擰移動平臺上的調節螺絲，手動調節移動平臺在滑軌上的位置，使得數顯尺的探頭與M₂平面鏡平臺端面接觸，再次調節M₂平面鏡平臺的位置，通過數顯尺完成讀數，在實驗過程中，通過調節移動平臺的位置，大大的降低了實驗難度，確保大部分經驗不多的人能夠完成儀器操作，并成功完成讀數。

附圖說明

圖1為本發明邁克爾遜干涉儀改造后結構示意圖；