[發明專利]一種電容可靠性測試電路

在審

• 申請號: 201811199577.4
• 申請日: 2018-10-16
• 公開（公告）號: CN109307814A
• 公開（公告）日: 2019-02-05
• 發明（設計）人: 袁乙鵬
• 申請（專利權）人: 江西合力泰科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/02;G01R1/30
• 代理公司: 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙) 33228
• 代理人: 黃宗熊

一種電容可靠性測試電路，它包括電源模塊、1個或多個測試模塊，每個測試模塊均包括第一電阻、第二電阻、保險絲、第一亮燈模塊和第二亮燈模塊，保險絲的一端與一待測電容的一端電連接，待測電容的另一端與電源模塊的正極電連接，保險絲的另一端與電源模塊的負極電連接，保險絲與待測電容的連接處與第一電阻的一端電連接，第一電阻的另一端與第一亮燈模塊的陽極電連接，第一亮燈模塊的陰極與電源模塊的負極電連接，第二電阻的一端與電源模塊的正極電連接，第二電阻的另一端與第二亮燈模塊的陽極電連接，第二亮燈模塊的陰極與電源模塊的負極電連接。該電容可靠性測試電路無需在成品整機上驗證，成本低廉、效率較高。

技術領域

本發明涉及電子元件可靠性測試技術領域，具體涉及一種電容可靠性測試電路。

背景技術

任何電子產品，為了規避可靠性問題，在上市前都要做一系列可靠性測試。作為電子料電容也不例外，電容作為單個部件物料，必須在通電工作狀態下才能檢驗是否有可靠性問題。傳統的方法都是將待測電容通過SMT(Surface Mount Technology)表面貼裝技術貼裝到終端整機產品上才能驗證可靠性問題，為了檢驗一個小小的電子料，卻要投料成品整機驗證，不僅成本太高，而且效率非常低下。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：提供一種無需在成品整機上驗證，從而使得成本低廉、效率較高的電容可靠性測試電路。

本發明的技術解決方案是：一種電容可靠性測試電路，其特征在于：它包括電源模塊、以及與電源模塊電連接的1個或多個測試模塊，所述每個測試模塊均包括第一電阻、第二電阻、保險絲、第一亮燈模塊和第二亮燈模塊，所述保險絲的一端與一待測電容的一端電連接，所述待測電容的另一端與電源模塊的正極電連接，所述保險絲的另一端與電源模塊的負極電連接，所述保險絲與待測電容的連接處與第一電阻的一端電連接，所述第一電阻的另一端與第一亮燈模塊的陽極電連接，所述第一亮燈模塊的陰極與電源模塊的負極電連接，所述第二電阻的一端與電源模塊的正極電連接，所述第二電阻的另一端與第二亮燈模塊的陽極電連接，所述第二亮燈模塊的陰極與電源模塊的負極電連接。

本發明電容可靠性測試電路的工作原理如下：

正常情況下，電流通過第二電阻，把第二亮燈模塊點亮，形成一個電壓來老化待測電容；當可靠性老化測試過程中待測電容短路了，電流會通過保險絲形成回路，第一亮燈模塊和第二亮燈模塊都會熄滅；然后保險絲繼續導通下去，基于保險絲的特性，會燒斷保險絲所在的支路，這樣電流就會通過第一電阻將第一亮燈模塊點亮；因此只要某一測試模塊的第一亮燈模塊點亮，即可明顯識別相應的待測電容在可靠性老化測試過程中失效了。

采用上述結構后，本發明具有以下優點：

本發明電容可靠性測試電路利用待測電容失效后會導通的原理，只要利用幾個成本低廉的元器件即可對待測電容進行測試，即使通過增加測試模塊的數量一次性測試多個待測電容，也不會使測試電路太過復雜，并且該測試電路可重復使用，無需在成品整機上進行驗證，不僅成本低廉，而且效率較高，尤其在同時對多個待測電容進行檢測時尤為明顯。

作為優選，所述第一亮燈模塊和第二亮燈模塊的燈光顏色不同。通過不同的燈光設置可更快速顯著地區分待測電容是正常狀況還是失效狀況。

作為優選，所述第一亮燈模塊和第二亮燈模塊均包括若干串聯的LED燈。該設置可使亮燈模塊發光效果更好，更醒目。

作為優選，所述第一亮燈模塊的LED燈的數量和/或排布形狀與第二亮燈模塊不同。該設置可更快速顯著地區分待測電容是正常狀況還是失效狀況。

作為優選，所述測試模塊設置2-10個。合理數量的測試模塊，在提高測試效率的同時，不會過多增加成本。

附圖說明：

圖1為本發明電容可靠性測試電路的電路圖；