[發明專利]一種光模塊溫度校準方法與裝置

在審

• 申請號: 201811198009.2
• 申請日: 2018-10-15
• 公開（公告）號: CN109443598A
• 公開（公告）日: 2019-03-08
• 發明（設計）人: 劉磊;張少杰;吳衛;潘罡;穆磊
• 申請（專利權）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00
• 代理公司: 深圳市愛迪森知識產權代理事務所(普通合伙) 44341
• 代理人: 何婷

本發明涉及光通信技術領域，特別涉及一種光模塊溫度校準方法與裝置，其中方法包括：通過測溫模塊中的多溫度傳感器陣列，實時測定待測光模塊指定測溫區域內的溫度；每隔預設時間根據實測的溫度值計算平均溫度，并判斷待測光模塊是否進入溫度穩定狀態；通過穩定后的平均溫度來校準待測光模塊的上報溫度；判斷校準后的上報溫度與穩定后的平均溫度間的差值是否滿足規定值，若滿足則溫度校準成功，若不滿足則重新校準。本發明提供的方案操作簡單，能夠快速實現光模塊上報溫度的自動校準，使輸出的上報溫度精準地反應出光模塊的實際溫度，減少人為因素的干擾，從而提高光模塊上報溫度的準確性和可靠性。

【技術領域】

本發明涉及光通信技術領域，特別涉及一種光模塊溫度校準方法與裝置。

【背景技術】

通過查看各種類型光模塊的協議可以發現，協議都對光模塊的上報溫度和實際CASE溫度(即封裝外殼表面的溫度)有著比較嚴格的規定，全溫范圍內僅允許兩者的溫度差別在±3℃內；由此可知，溫度的準確度對光模塊來說有著比較重要的作用。而目前在光模塊領域，普遍的溫度校準做法是使用點溫計將雙絞線貼在模塊表面讀取溫度，再手動寫入校準值的方式來校準。但此種校準溫度的方法精度受雙絞線的質量以及雙絞線接觸點與待測模塊管殼的接觸緊密度影響較大，而且操作復雜；同時，在反復點溫過程中，也容易出現較大誤差。

鑒于此，克服上述現有技術所存在的缺陷是本技術領域亟待解決的問題。

【發明內容】

本發明需要解決的技術問題是：

目前在光模塊領域，通常使用點溫計將雙絞線貼在模塊表面讀取溫度，再手動寫入校準值的方式來校準溫度，校準精度低，操作復雜；同時在反復點溫過程中，容易出現較大誤差。

本發明通過如下技術方案達到上述目的：

第一方面，本發明提供了一種光模塊溫度校準方法，包括：

通過測溫模塊中的多溫度傳感器陣列，實時測定待測光模塊指定測溫區域內的溫度；

每隔預設時間根據實測的溫度值計算平均溫度，并判斷待測光模塊是否進入溫度穩定狀態；

通過穩定后的平均溫度來校準待測光模塊的上報溫度；

判斷校準后的上報溫度與穩定后的平均溫度間的差值是否滿足規定值；其中，若滿足則溫度校準成功；若不滿足則重新校準。

優選的，在通過測溫模塊測定溫度之前，所述方法還包括：

啟動測溫模塊中的各溫度傳感器分別測定標準光模塊表面的溫度，并計算平均溫度；計算各溫度與平均溫度間的偏差，將偏差小于第一閾值的一個或多個對應溫度傳感器標記為優選溫度傳感器，和/或，將偏差大于第二閾值和/或無法工作的一個或多個對應溫度傳感器標記為故障溫度傳感器；其中，第一閾值小于第二閾值；

則所述通過測溫模塊中的多溫度傳感器陣列，實時測定待測光模塊指定測溫區域內的溫度，具體為：啟動測溫模塊中的所述優選溫度傳感器，或者除所述故障溫度傳感器以外的其他溫度傳感器，實時測定待測光模塊指定測溫區域內的溫度，進而得到一個或多個溫度值。

優選的，所述方法還包括：在實時測定待測光模塊溫度的過程中，對所述一個或多個優選溫度傳感器進行周期性的校對，當發現其中任一優選溫度傳感器的實測溫度偏差超出第一閾值時，關閉對應的溫度傳感器，并重新選擇溫度偏差小于第一閾值的另一溫度傳感器作為優選溫度傳感器。

優選的，不同待測光模塊指定有不同的測溫區域，則所述通過測溫模塊中的多溫度傳感器陣列，實時測定待測光模塊指定測溫區域內的溫度，具體為：根據當前待測光模塊的指定測溫區域，啟動測溫模塊中相應圖形區域的一個或多個溫度傳感器作為實際工作對象，實時測定待測光模塊指定測溫區域內的溫度。

優選的，在通過測溫模塊測定溫度之前，所述方法還包括：