[發明專利]基于快速圖形擬合算法的SV波形比對測試方法

有效

• 申請號: 201811193871.4
• 申請日: 2018-10-12
• 公開（公告）號: CN109374960B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 瞿曉宏;談鳳真;周秀麗;王菲;孟慶媛
• 申請（專利權）人: 積成電子股份有限公司
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25;G06F17/17
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 苗峻;孟繁修

1.基于快速圖形擬合算法的SV波形比對測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、獲取兩條SV波形曲線的原始圖形數據f[n]和g[n]；

步驟2、為了移動處理的需要，所獲取的曲線的原始圖形數據要足夠多，判斷原始圖形數據f[n]和g[n]的數據隊列是否超過兩個完整的數據周期,即n大于160，如果否，轉步驟1；如果是，轉下一步；

步驟3、對獲取的原始圖形數據f[n]和g[n]進行歸一化處理，得到：和

步驟4、對兩條SV波形曲線歸一化處理后的數據和計算差值的均方根，并迭代一個周期：k從0到T，T＝80；

步驟5、獲取A′(Δt)[k]中的最小值，設定為p點，此時k即為兩曲線最重合的原始數據點，由于原始數據點間隔為250us，80點采樣，所以計算精度為250us；

步驟6、為了獲取高精度的計算結果，對原始數據進行雙向二分法線性插值，為了獲取小于p點的計算結果，對p點進行p+125和p-125兩處進行線性插值，這樣可以獲取兩個數據隊列f_p+[n]和f_p-[n]；

步驟7、以數據隊列f_p+[n]和f_p-[n]與基準數據隊列計算差值的均方根并各自找到最小點，取兩個最小點較小的一個，該點即是這次線性插值所得到的點，此時計算精度為125us；

步驟8、重復步驟6和7過程m次，其中m越大，計算精度越高，如果進行10次這樣的插值計算，計算數據精度為250×(0.5)¹⁰＝0.244us；

步驟9、通過步驟8插值計算獲取的最小數據點就是兩條曲線最佳重合點，該點與基準線起點的相位差即為我們要計算的兩條曲線的相位差；

步驟10、對擬合的兩個波形計算差值均方根，可獲取被測合并單元的采樣誤差。