[發(fā)明專(zhuān)利]一種太赫茲成像的校準(zhǔn)方法及設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811191952.0
• 申請(qǐng)日: 2018-10-12
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111044148B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 武帥;安德越;馮輝;朱劍飛;涂昊;高炳西;李霆
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所;廣州地鐵集團(tuán)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01J5/00
• 分類(lèi)號(hào): G01J5/00
• 代理公司: 合肥昊晟德專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 34153
• 代理人: 王林

本發(fā)明公開(kāi)了一種太赫茲成像的校準(zhǔn)方法及設(shè)備，記錄每個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度；保持第一個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度不變，改變太赫茲探測(cè)單元的輸出信號(hào)，記錄此時(shí)的各個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度；改變環(huán)境溫度，得到多組太赫茲探測(cè)單元溫度，分別將其存入標(biāo)準(zhǔn)表格；從標(biāo)準(zhǔn)表格中讀取其對(duì)應(yīng)的其他太赫茲探測(cè)單元的溫度，并將其他太赫茲探測(cè)單元的溫度控制在對(duì)應(yīng)的溫度上，實(shí)現(xiàn)了每個(gè)太赫茲探測(cè)單元輸出的信號(hào)接近。能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)太赫茲探測(cè)陣列中各個(gè)單元進(jìn)行有效的一致性校準(zhǔn)，可以大幅提升太赫茲探測(cè)陣列的一致性，有效彌補(bǔ)目前太赫茲探測(cè)陣列一致性較差的缺陷，提升太赫茲探測(cè)陣列的性能，拓寬太赫茲探測(cè)陣列的使用場(chǎng)景，并進(jìn)一步提升太赫茲成像的質(zhì)量。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種太赫茲成像技術(shù)，尤其涉及的是一種太赫茲成像的校準(zhǔn)方法及設(shè)備。

背景技術(shù)

太赫茲探測(cè)陣列技術(shù)對(duì)于太赫茲成像領(lǐng)域的發(fā)展起到至關(guān)重要的作用，然而目前的太赫茲探測(cè)陣列技術(shù)發(fā)展成熟度較低，各個(gè)太赫茲探測(cè)單元間的一致性較差，即面對(duì)相同的輸入各個(gè)太赫茲探測(cè)單元輸出信號(hào)會(huì)有較大差異，這大大降低了整個(gè)太赫茲探測(cè)陣列的使用效果。

研究發(fā)現(xiàn)，太赫茲探測(cè)單元的輸出信號(hào)強(qiáng)烈的受到其自身溫度的影響，通過(guò)對(duì)太赫茲探測(cè)陣列中各個(gè)單元的溫度進(jìn)行精確控制，可以對(duì)其輸出信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)從而達(dá)到對(duì)太赫茲探測(cè)陣列進(jìn)行一致性校準(zhǔn)的目的。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于：如何確保太赫茲探測(cè)陣列內(nèi)每個(gè)太赫茲探測(cè)單元輸出信號(hào)的一致性，提供了一種太赫茲成像的校準(zhǔn)方法及設(shè)備。

本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案解決上述技術(shù)問(wèn)題的，本發(fā)明的一種太赫茲成像的校準(zhǔn)方法，包括以下步驟：

(1)利用基準(zhǔn)太赫茲輻射源產(chǎn)生基準(zhǔn)太赫茲輻射，太赫茲探測(cè)陣列內(nèi)的多個(gè)太赫茲探測(cè)單元分別接收該基準(zhǔn)太赫茲輻射，得到太赫茲探測(cè)單元的輸出信號(hào)S1、S2、…Sn；

(2)記錄每個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度C1、C2、…Cn；

(3)保持第一個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度不變，調(diào)節(jié)其他太赫茲探測(cè)單元的溫度，從而改變太赫茲探測(cè)單元的輸出信號(hào)S11＝S21＝…Sn1，記錄此時(shí)的各個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度；

(4)將步驟(3)得到的各個(gè)太赫茲探測(cè)單元溫度C11、C21、…Cn1作為預(yù)設(shè)值存入標(biāo)準(zhǔn)表格；

(5)改變環(huán)境溫度，得到多組太赫茲探測(cè)單元溫度，分別將其存入標(biāo)準(zhǔn)表格；

(6)正常工作時(shí)，按照測(cè)量得到的第一個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度，從標(biāo)準(zhǔn)表格中讀取其對(duì)應(yīng)的其他太赫茲探測(cè)單元的溫度，并將其他太赫茲探測(cè)單元的溫度控制在對(duì)應(yīng)的溫度上，實(shí)現(xiàn)了每個(gè)太赫茲探測(cè)單元輸出的信號(hào)接近。

所述太赫茲探測(cè)單元至少有兩個(gè)?？梢杂卸鄠€(gè)太赫茲探測(cè)單元構(gòu)成一個(gè)太赫茲探測(cè)陣列。

一種使用所述的太赫茲成像的校準(zhǔn)方法進(jìn)行校準(zhǔn)的設(shè)備，所述設(shè)備包括太赫茲探測(cè)陣列、基準(zhǔn)太赫茲輻射源和存儲(chǔ)模塊；所述太赫茲探測(cè)陣列包括多個(gè)太赫茲探測(cè)單元和多個(gè)溫控模塊；

所述太赫茲探測(cè)單元分別探測(cè)基準(zhǔn)太赫茲輻射源的太赫茲輻射功率，并輸出與探測(cè)太赫茲信號(hào)功率成比例的電壓信號(hào)；

所述溫控模塊用于對(duì)太赫茲探測(cè)單元的測(cè)溫和溫度調(diào)節(jié)；

所述基準(zhǔn)太赫茲輻射源用于對(duì)各個(gè)太赫茲探測(cè)單元提供相同功率的太赫茲輻射源；

所述存儲(chǔ)模塊用于存放各個(gè)太赫茲探測(cè)單元的溫度對(duì)應(yīng)關(guān)系。

所述溫控模塊包括包覆在太赫茲探測(cè)單元外的殼體。用殼體可有有效的控溫，防止外界干擾。

所述溫控模塊還包括空調(diào)。用于控制溫度在設(shè)定的范圍。