[發明專利]一種多路數字光模塊誤碼率的測試裝置和測試方法

在審

• 申請號: 201811190682.1
• 申請日: 2018-10-12
• 公開（公告）號: CN108964760A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 程鯤;李震;何翠平;宋文生;聶楊;柯有強
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第三十四研究所
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 桂林市持衡專利商標事務所有限公司 45107
• 代理人: 歐陽波

本發明為一種多路數字光模塊誤碼率的測試裝置和測試方法，本裝置CPU連接的FPGA接多個電光轉換單元E/O和光電轉換單元O/E，E/O和O/E連接待測數字光模塊，CPU連接上位機接收參數設置并將測試結果返回上位機。測試方法為待測數字光模塊連接在本裝置的E/O和O/E，上位機根據對各光模塊狀況設置測試碼型、誤碼率指標和測試速率，經CPU發送指令到FPGA，后者產生相應的電信號經E/O轉換為光信號發送到待測試的數字光模塊，經其傳輸后回傳到O/E再轉換為電信號送入FPGA分析計算得其誤碼率。CPU將實時測試結果送到上位機。本發明可同時測試多個數字光模塊，且可選擇多種測試參數，滿足數字光模塊誤碼率的測試需求。

技術領域

本發明涉及高速大容量數字光模塊測試及制造技術領域，具體為一種多路數字光模塊誤碼率的測試裝置和測試方法。

背景技術

隨著云計算、大數據、物聯網、人工智能時代的到來，全球數據中心所產生的數據總流量正在以34％的年復合增長率飛速上升，谷歌、亞馬遜等互聯網巨頭對核心速率100Gbit/s(單波25Gbit/s)甚至更高傳輸速率的400Gbit/s(單波100Gbit/s)數據中心的需求漸行漸近。其中對核心組件即高速大容量數字光模塊的需求更是日益增長，目前基本達到百萬量級/數據中心。高速大容量的數字光模塊不僅是數據中心的核心組件，也是數字光纖通信，電信骨干網、各類光纖傳輸專網的核心模塊。在如此巨大的需求下，如何又快又準確的完成對高速大容量數字光模塊的測試是一項極其重要的工作。

在軍用方面，未來的軍事設備對于各項戰術指標的精度要求更是越來越高。這將導致很多戰術設備如雷達，戰機，艦船等內部數據的傳輸及處理量將急速增加，這就需要通過大量的數字光模塊來傳輸日益增大的數據量，顯然在未來軍事光通信中對于高速大容量數字光模塊也將有廣泛的需求。

高速大容量數字光模塊的關鍵指標主要是發光功率、光靈敏度、光飽和度、誤碼率和功耗。光功率計配合少量其他儀器即可完成光功率、光靈敏度及光飽和度指標的測試。

但對于數字光模塊組件的誤碼率指標測試，目前的測試裝置和測試方法難以滿足日益增長的測試要求?，F有的儀器只能測試1或2路低速率且碼型單一的光信號，對高速數字光模塊進行測試時傳輸速率，測試數量、傳輸帶寬等參數設置均有局限，無法滿足目前數量急速上升的高速大容量數字光模塊產品的測試需求。

發明內容

本發明的目的是設計一種多路數字光模塊誤碼率的測試裝置，中央處理器CPU連接的可編程門陣列FPGA有多個電光轉換單元和光電轉換單元，各電光轉換單元和光電轉換單元連接待測數字光模塊，CPU連接上位機接收測試參數設置信息并將測試結果實時返回上位機。

本發明的另一目的是設計一種多路數字光模塊誤碼率的測試裝置的測試方法，待測數字光模塊連接在本裝置的電光轉換單元和光電轉換單元，上位機根據對各電光轉換單元和光電轉換單元所連接的待測數字光模塊的應用狀況設置相關的測試碼型、誤碼率指標和測試速率，將其送入CPU，CPU解析后發送指令到FPGA，后者產生相應的電信號經電光轉換單元轉換為光信號發送到待測試的數字光模塊，經其傳輸后回傳到光電轉換單元再轉換為電信號送入FPGA分析計算得其誤碼率。CPU將實時測試結果送到上位機。本發明可同時測試多個數字光模塊，且可選擇多種測試參數，解決了當前需求量巨大的數字光模塊誤碼率的測試問題。