[發明專利]一種用于射線底片黑度動態測量的裝置在審
| 申請號: | 201811188813.2 | 申請日: | 2018-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN109490199A | 公開(公告)日: | 2019-03-19 |
| 發明(設計)人: | 楊波;袁黎明;賈瀟;張寬;閆芬婷;安慶;黃寶洋;王柄凱;許紅愿;李小兵 | 申請(專利權)人: | 陜西西宇無損檢測有限公司;西安工業大學 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/59 |
| 代理公司: | 西安新思維專利商標事務所有限公司 61114 | 代理人: | 黃秦芳 |
| 地址: | 712100 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 動態測量 底片黑度 黑度測量 射線底片 底片 黑度 工業射線底片 高性能芯片 測量過程 場合要求 單點測量 底片處理 多傳感器 后續處理 信號處理 傳統的 多區域 無損 皮帶 光照 評判 采集 檢測 保證 | ||
1.一種用于射線底片黑度動態測量的裝置,其特征在于:所述系統由光照強度采集組件、數據處理組件、送片出片組件組成;
所述光照強度采集組件包括從上到下依次水平設置的光照強度傳感器組(2)、光闌(1)、遮光底板(11)、強光LED光源組(3)和導軌型散熱底座(4),其中光照強度傳感器組(2)、光闌(1)和遮光底板(11)構成組件,所述光闌(1)位于光照強度傳感器組(2)和遮光底板(11)之間,所述遮光底板(11)的下部設置有送片出片組件,所述強光LED光源組(3)設置于導軌型散熱底座(4)上構成組件;
所述光照強度傳感器組(2)由數個光照強度傳感器組成,所述光闌(1)上設置有數個通孔,所述強光LED光源組(3)由數個LED發光源組成;所述光照強度傳感器的感光器件中心與光闌通孔中心以及強光LED發光源的中心處于同一條直線。
2.根據權利要求1所述的一種用于射線底片黑度動態測量的裝置,其特征在于:所述數據處理組件的核心為高性能STM32處理器。
3.根據權利要求1或2所述的一種用于射線底片黑度動態測量的裝置,其特征在于:所述送片出片組件包括上部開口的外殼(9)、兩對輥軸(6),同步輪(7),第一齒輪(13),同步皮帶(14),壓緊輪(10)和步進電機(15),所述每對輥軸(6)包括上下兩個緊密接觸的輥軸,分別架設于外殼的兩端,每對輥軸(6)中上方輥軸兩端分別連接有同步輪(7)和第一齒輪(5),下方輥軸一端設置有與第一齒輪(5)嚙合的第二齒輪(13),所述出片端的同步輪(7)一側的外殼下部設置有壓緊輪(10);所述步進電機(15)設置于外殼進片端的外部,所述同步皮帶(14)繞于兩個同步輪(7)、壓緊輪(10)和步進電機(15)的輸出軸上。
4.根據權利要求3所述的一種用于射線底片黑度動態測量的裝置,其特征在于:所述遮光底板(11)下部固定設置有導向槽(12)。
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