[發明專利]一種激光測量系統光電瞄準裝置

在審

• 申請號: 201811176051.4
• 申請日: 2018-10-10
• 公開（公告）號: CN109085567A
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 趙波
• 申請（專利權）人: 四川精伍軌道交通科技有限公司
• 主分類號: G01S13/08
• 分類號: G01S13/08
• 代理公司: 成都瑞創華盛知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 51270
• 代理人: 辜強

本發明公開了一種激光測量系統光電瞄準裝置，該光電瞄準裝置主要由激光測距機、攝像機、斜方棱鏡和光學窗口片組成；激光測距機和攝像機位于斜方棱鏡的同一側，與該側相對應的另一側為光學窗口片；斜方棱鏡包括第一反射面和第二反射面，第一反射面靠近激光測距機的激光發射接收透鏡且對應光學窗口片，第二反射面對應攝像機；光學窗口片沿其所處平面的X軸或Y軸傾斜±20°的角度，或者是沿其所處平面的X軸和Y軸各傾斜±20°的角度。本發明光路結構中沒有分光器件對發射接收激光能量大幅度衰減，僅有光學窗口片對發射接收激光小幅度反射衰減作用，保證激光測距機測距能力無明顯降低，同時避免了攝像畫面出現強烈光斑影響觀瞄的問題。

技術領域

本發明屬于測量裝置技術領域，特別是涉及一種激光測量系統光電瞄準裝置。

背景技術

光電瞄準裝置是激光測量系統的重要組成部分。目前常見的激光測距光電瞄準裝置，主要采用分光、反射面帶有U型槽斜方棱鏡等原理實現。

分光原理采用分光鏡保證攝像機、激光等光軸同軸。根據分光原理可知，激光測距機發射激光一部分經分光鏡的分光膜透射至目標，一部分被分光鏡的分光膜反射到其他方向。導致激光測距機發射至被測目標的激光能量以及激光測距機接收的被測目標反射激光能量減弱，導致激光測距機測距能力顯著降低。激光在經過分光鏡時，會在分光鏡的各個表面發生反射，造成雜散光現象嚴重，這種雜散光嚴重影響激光測距機測距能力，如果是可見光波段激光，還會造成攝像畫面出現強烈的光斑，影響觀瞄。目標影像經過分光鏡反射后，在攝像機畫面上形成倒像，使觀瞄操作調整方向與觀瞄畫面方向不一致。

反射面帶有U型槽斜方棱鏡原理將激光發射透鏡固定設置與斜方棱鏡U型槽中心，以此保證攝像機、激光等光軸同軸。此原理僅適用于激光發射透鏡與激光接收透鏡分開設置的雙透鏡激光測距機，對于激光發射透鏡、激光接收透鏡集成為單透鏡的激光測距機，因U型槽斜方棱鏡對于激光測距機發射接收透鏡的遮擋，導致斜方棱鏡將發射激光置于U型槽中心位置的同時遮擋了目標反射激光進入透鏡，因此并不適用于單透鏡激光測距機。

因此，如何解決上述技術問題成為了本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明的目的就是提供一種激光測量系統光電瞄準裝置，能完全解決上述現有技術的不足之處。

本發明的目的通過下述技術方案來實現：

一種激光測量系統光電瞄準裝置，該光電瞄準裝置主要由激光測距機、攝像機、斜方棱鏡和光學窗口片組成；

所述激光測距機和攝像機位于斜方棱鏡的同一側，與該側相對應的另一側為光學窗口片；

所述斜方棱鏡包括第一反射面和第二反射面，第一反射面靠近激光測距機的激光發射接收透鏡且對應光學窗口片，第二反射面對應攝像機；

所述光學窗口片沿其所處平面的X軸或Y軸傾斜±20°的角度，或者是沿其所處平面的X軸和Y軸各傾斜±20°的角度。

進一步，所述第一反射面的X軸線的投影與激光發射接收透鏡的X軸線重合。

進一步，所述第二反射面的中心正對攝像機鏡頭的中心。

進一步，所述第一反射面與水平面的夾角為-45°。

進一步，所述第二反射面與水平面的夾角為45°。

與現有技術相比，本發明的有益效果在于：激光測距機向被測目標發射的激光經過光學窗口片射向被測目標，被測目標反射激光經光學窗口片一部分被斜方棱鏡反射到達攝像機在拍攝畫面上形成激光指示點，另一部分到達激光發射接收透鏡完成激光測距。對比采用分光技術的光路結構，本發明光路結構中沒有分光器件對發射接收激光能量大幅度衰減，僅有光學窗口片對發射接收激光小幅度反射衰減作用，保證激光測距機測距能力無明顯降低，即適應單透鏡激光測距機又適應雙透鏡激光測距機。