[發明專利]半導體裝置及其閃存的存取周期的自動調節方法

有效

• 申請號: 201811172357.2
• 申請日: 2018-10-09
• 公開（公告）號: CN109727626B
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 劉明穎;吳坤益
• 申請（專利權）人: 新唐科技股份有限公司
• 主分類號: G11C16/06
• 分類號: G11C16/06;G11C7/22
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯;湯在彥

半導體裝置及其閃存的存取周期的自動調節方法。自動調節方法包括下列步驟。通過閃存控制器計數系統總線的系統時脈信號的上升緣在檢測期間出現的次數以取得系統計數值。通過閃存控制器依據系統計數值判斷系統時脈信號的系統頻率，以及，通過閃存控制器依據系統頻率判斷存取閃存的存取周期數。

技術領域

本發明是有關于一種存取周期的調節方法，且特別是有關于一種半導體裝置及其閃存的存取周期的自動調節方法。

背景技術

傳統的閃存的存取周期(access cycle)數的設定方式，是由使用者根據目前系統時脈信號的頻率，經技術文件查表推算出對應的數值，再將所查出的數值填寫至閃存。然而，上述設定方式需要使用者花時間去查表，并且使用者無法直接與閃存控制器通信，因此也需要中央處理單元介入來更新存取周期數。藉此，傳統的閃存的存取周期數的設定方式是花費使用者的時間及精力的工作。

發明內容

本發明提供一種半導體裝置及其閃存的存取周期的自動調節方法，可在半導體裝置初始化及系統時脈信號的頻率改變時，自動判斷系統時脈信號的頻率以調節閃存的存取周期數。

本發明的半導體裝置，包括閃存、系統總線及閃存控制器。閃存控制器耦接于閃存與系統總線之間。閃存控制器計數系統總線的系統時脈信號的上升緣在檢測期間出現的次數以取得系統計數值，依據系統計數值判斷系統時脈信號的系統頻率，并且依據系統頻率判斷存取閃存的存取周期數。

本發明的閃存的存取周期的自動調節方法，包括下列步驟。通過閃存控制器計數系統總線的系統時脈信號的上升緣在檢測期間出現的次數以取得系統計數值。通過閃存控制器依據系統計數值判斷系統時脈信號的系統頻率，以及，通過閃存控制器依據系統頻率判斷存取閃存的存取周期數。

基于上述，本發明實施例的半導體裝置及其閃存的存取周期的自動調節方法，可在半導體裝置初始化及系統時脈信號的頻率改變時，計數系統時脈信號的上升緣的數目，以自動判斷系統時脈信號的頻率，并且依據所判定的系統時脈信號的頻率，判斷閃存的存取周期數。藉此，可自動調節閃存的存取周期數。

為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式作詳細說明如下。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為依據本發明一實施例的半導體裝置的系統示意圖。

圖2為依據本發明一實施例的半導體裝置的時脈信號的波形示意圖。

圖3為依據本發明一實施例的閃存的存取周期的自動調節方法的流程圖。

圖4為依據本發明另一實施例的閃存的存取周期的自動調節方法的流程圖。

附圖標號：

100：半導體裝置

110：中央處理單元

120：閃存

130：閃存控制器

140：主存儲器

150：系統總線

160：系統時脈控制電路

ADD：地址信號

DAT：數據

HCLK：系統時脈信號

HIRC：內部時脈信號

SCN：變更通知信號