[發明專利]一種圖像并行處理方法、裝置和計算機存儲介質

在審

• 申請號: 201811171048.3
• 申請日: 2018-10-09
• 公開（公告）號: CN109493318A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發明（設計）人: 吳萍華;蘇澤榮
• 申請（專利權）人: 廣東仙童智能機器人科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06F9/38
• 代理公司: 廣東廣和律師事務所 44298
• 代理人: 劉敏

本發明公開了一種圖像并行處理方法、裝置和計算機存儲介質，應用于PCB缺陷光學檢測上，其方法包括：將PCB缺陷光學檢測任務分解為多個圖像處理任務，所述多個圖像處理任務為連續的任務；創建多個線程，并為每個圖像處理任務配置至少一個線程；對所述多個圖像處理任務進行多線程并行處理。本發明中通過多線程進行多個圖像處理任務的并行處理，加快了終端處理PCB缺陷光學檢測任務的速度，避免了增加大量的終端進行運算處理，有效節省了成本。

技術領域

本發明涉及圖像處理技術領域，更具體地說，涉及一種圖像并行處理方法、裝置和計算機存儲介質。

背景技術

大部分移動終端、電子設備、以及各類強、弱電裝備內部的控制單元都包含印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)。隨著這些控制單元集成的電子元器件越來越多，功能越來越復雜，PCB上內嵌的銅線電路不但越來越細，而且銅線間的距離也越來越小，因而PCB整體的線密度越來越高。由于PCB上的銅線是通過刻蝕工藝附著在底板上的，刻蝕工藝過程中可能產生與標準設計圖(通常稱作PCB模板)不一致的地方，從而形成各種各樣的缺陷。典型的缺陷包括短路、斷路、殘銅、凸銅、缺口、孔破、孔塞、針孔等。這些缺陷必須加以識別以避免整個線路板報廢。目前流行的方法是通過光學設備(如多個相機陣列)結合機器視覺算法加以甄別。

最近幾年來，PCB缺陷光學檢測已經從離線逐步轉向在線的方式進行。在線檢測要求整個光學檢測設備的處理速度跟PCB產線上游的刻蝕PCB的速度相一致，即達到6-8s/板。

然而，由于PCB光學圖像的尺寸通常在40000*40000像素左右，終端(例如電腦)在進行PCB缺陷光學檢測時所需的時間過長。為了達到在線處理速度要求，現有技術通過增加處理終端的數量來提高單位時間內處理PCB的數量，但是這樣所需增加的終端較多，導致成本過高。

發明內容

針對上述現有技術中需要增加終端進行PCB缺陷光學檢測，而導致成本過高的缺陷，本發明提供了一種圖像并行處理方法、裝置和計算機存儲介質。

第一方面，本發明提供了一種圖像并行處理方法，應用于PCB缺陷光學檢測上，包括：

將PCB缺陷光學檢測任務分解為多個圖像處理任務，所述多個圖像處理任務為連續的任務；

創建多個線程，并為每個圖像處理任務配置至少一個線程；

對所述多個圖像處理任務進行多線程并行處理。

第二方面，本發明提供了一種圖像并行處理裝置，包括：

分解模塊，用于將PCB缺陷光學檢測任務分解為多個圖像處理任務，所述多個圖像處理任務為連續的任務；

創建模塊，用于創建多個線程，并為每個圖像處理任務配置至少一個線程；

處理模塊，用于對所述多個圖像處理任務進行多線程并行處理。

第三方面，本發明提供了一種計算機裝置，所述計算機裝置包括處理器，所述處理器用于執行存儲裝置中存儲的計算機程序時實現如第一方面所述的圖像并行處理方法。

第四方面，本發明提供了一種計算機存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如第一方面所述的圖像并行處理方法。

本發明具有以下有益效果：

本發明中將PCB缺陷光學檢測任務分解為多個圖像處理任務，并且通過多線程進行多個圖像處理任務的并行處理，加快了終端處理PCB缺陷光學檢測任務的速度，避免了增加大量的終端進行運算處理，有效節省了成本。

附圖說明

下面將結合附圖及實施例對本發明作進一步說明，附圖中：