[發(fā)明專利]一種電源INI測(cè)試在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811169348.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111007385A | 公開(公告)日: | 2020-04-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李陽(yáng);李濤;朱華星 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇凱源電子科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214400 江蘇省無*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電源 ini 測(cè)試 | ||
本發(fā)明的一種電源INI測(cè)試,用于對(duì)完成焊接,并安裝至殼體內(nèi)的電源電路板進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明的有益效果是,通過規(guī)范測(cè)試流程,便于工人實(shí)際操作,提高測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子行業(yè),具體涉及對(duì)完成的電源電路板進(jìn)行INI測(cè)試的方法。
背景技術(shù)
電子工業(yè)從來都是技術(shù)密集型,又是勞動(dòng)密集型的行業(yè)。通孔安裝技術(shù)是電子工業(yè)的基礎(chǔ),人工插件技術(shù)一直是中國(guó)電子工業(yè)的基礎(chǔ)。從世界電子元器件的技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)來看,總體來看,片式化已經(jīng)成為衡量電子元件技術(shù)發(fā)展水平的重要標(biāo)志之一,其中,片式電容、片式電阻、片式電感三大無源元件,約占元器件總產(chǎn)量的85%-90%。電子元器件在片式化的同時(shí),也在向小型化方向迅速發(fā)展,隨著電子設(shè)備小型化進(jìn)程的加快,電子元件復(fù)合化和集成化的步伐也在加快。由于電子元器件產(chǎn)品種類很多,各分類產(chǎn)品在技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)上又各有自身的特點(diǎn)。
電子元器件正進(jìn)入以新型電子元器件為主體的新一代元器件時(shí)代,它將基本上取代傳統(tǒng)元器件。電子元器件由原來只為適應(yīng)整機(jī)的小型化及其新工藝要求為主的改進(jìn),變?yōu)橐詽M足數(shù)字技術(shù)、微電子技術(shù)發(fā)展所提出的特性要求為主,而且是成套滿足的產(chǎn)業(yè)化發(fā)展階段。新型電子元器件體現(xiàn)當(dāng)代和今后電子元器件向高頻化、片式化、微型化、薄型化、低功耗、響應(yīng)速率快、高分辨率、高精度、高功率、多功能、組件化、復(fù)合化、模塊化和智能化等的發(fā)展趨勢(shì)。同時(shí),產(chǎn)品的安全性和綠色化也是影響其發(fā)展前途的重要因素。
隨著產(chǎn)品產(chǎn)量的提升,對(duì)完成品的INI測(cè)試效率也需要提升。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種電源INI測(cè)試,解決上述不足。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供了一種電源INI測(cè)試,步驟如下:
步驟1、從輸送帶上取下完成焊接的產(chǎn)品,檢查上一工序的標(biāo)記情況,注意輕拿輕放;
步驟2、將測(cè)試接頭插入電源的輸出端口,將電源的輸入插頭插入測(cè)試臺(tái);
步驟3、打開AC開關(guān)、短路開關(guān)、和導(dǎo)通開關(guān);
步驟4、調(diào)整測(cè)試臺(tái)負(fù)載,將測(cè)試電源的電流逐漸加載至0.5A;查看輸出電壓,針對(duì)48V產(chǎn)品,輸出電壓范圍在46.5V-49.5V;
步驟5、查看示波器顯示,確認(rèn)CH1通道波形VPP<400mV,即波形在示波器顯示屏的下方4格內(nèi);查看輸出電流,輸出電流在0.4A-0.6A間;
上述步驟5后,對(duì)合格品繼續(xù)流轉(zhuǎn);對(duì)不合格品,粘帖不合格品標(biāo)簽,并填寫不合格原因,將其放入不合格品區(qū)。
優(yōu)選的,上述步驟2中,測(cè)試端子的接頭:正極為PIN4、5;負(fù)極為PIN7、8。
本發(fā)明的一種電源INI測(cè)試,用于電源電路板,特別是補(bǔ)焊后的INI測(cè)試。本發(fā)明的有益效果是:通過規(guī)范測(cè)試檢測(cè)范圍,提高了測(cè)試效率。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的測(cè)試端子接頭示意圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明主要用于電源電路板的生產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié),提供了一種電源INI測(cè)試,具體步驟如下:
步驟1、從輸送帶上取下完成焊接的產(chǎn)品,檢查上一工序的標(biāo)記情況,注意輕拿輕放。
步驟2、將測(cè)試接頭插入電源的輸出端口,將電源的輸入插頭插入測(cè)試臺(tái)。
優(yōu)選的,如圖1所示,測(cè)試端子的接頭:正極為PIN4、5;負(fù)極為PIN7、8。
步驟3、打開AC開關(guān)、短路開關(guān)、和導(dǎo)通開關(guān)。
步驟4、調(diào)整測(cè)試臺(tái)負(fù)載,將測(cè)試電源的電流逐漸加載至0.5A;查看輸出電壓,針對(duì)48V產(chǎn)品,輸出電壓范圍在46.5V-49.5V。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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