[發(fā)明專利]具有高頻放大器的雷達物位測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811167682.X
• 申請日: 2018-10-08
• 公開（公告）號: CN109632047B
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅蘭·韋勒;斯特芬·瓦爾德
• 申請（專利權(quán)）人: VEGA格里沙貝兩合公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京信慧永光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11290
• 代理人: 曹正建;陳桂香

1.一種雷達物位測量裝置(101)，其用于物位測量或者用于檢測容器中的填充材料的表面的拓撲，且包括：

第一雷達芯片(301a)和第二雷達芯片(301b)，其中，所述第一雷達芯片包括第一同步電路(402)，所述第一同步電路被配置成用于產(chǎn)生高頻信號，其中，所述第二雷達芯片包括第二同步電路(403)；

高頻線路布置結(jié)構(gòu)(401)，其被配置成用于將來自所述第一同步電路的所述高頻信號傳送到所述第二同步電路，以同步所述第一雷達芯片和所述第二雷達芯片；

高頻放大器(601)，其布置在所述高頻線路布置結(jié)構(gòu)中，并且被配置成用于放大所述高頻信號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，所述高頻信號是針對發(fā)射信號通過整數(shù)因數(shù)分頻的高頻信號。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，所述高頻放大器(601)包括超過30GHz的可用頻率范圍。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，在所述第一雷達芯片(301a)上集成有第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，并且在所述第二雷達芯片(301b)上集成有第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，所述高頻線路布置結(jié)構(gòu)(401)被高頻功率分配器(501)分流，并且所述高頻放大器(601)布置在所述高頻功率分配器之后。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，所述高頻放大器(601)是具有獨立電源的低噪聲放大器。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其還包括：

FPGA(310)，其被配置成用于在所述雷達物位測量裝置的發(fā)射中止時關(guān)停所述高頻放大器(601)，在所述發(fā)射中止時，通過所述FPGA來進行信號處理以及所述容器中的所述填充材料的物位或表面拓撲的計算。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，所述高頻線路布置結(jié)構(gòu)(401)包括多個具有獨立電源的低噪聲高頻放大器(601)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，

其中，所述高頻線路布置結(jié)構(gòu)(401)包括電路板(904)上的第一傳導(dǎo)路徑(903)、所述電路板上的第二傳導(dǎo)路徑(903)和布置在所述第一傳導(dǎo)路徑和所述第二傳導(dǎo)路徑之間的波導(dǎo)(1001)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其適于檢測所述容器中的所述填充材料的拓撲。

11.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，所述第一雷達芯片(301a)和所述第二雷達芯片(301b)均具有一個或多個發(fā)射通道(307)和一個或多個接收通道(308)，所述發(fā)射通道用于發(fā)射相應(yīng)的發(fā)射信號，所述接收通道用于接收相應(yīng)的在所述填充材料的表面上反射的所述發(fā)射信號。

12.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雷達物位測量裝置(101)，其中，所述物位測量裝置(101)被設(shè)計為FMCW物位測量裝置。