[發(fā)明專利]倒裝結(jié)構(gòu)微尺寸光子晶體LED陣列芯片及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811152566.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109216399A | 公開(公告)日: | 2019-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃華茂;黃程;吳浩城;王洪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華南理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L27/15 | 分類號(hào): | H01L27/15;H01L33/14;H01L33/10;H01L33/46;H01L33/00 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102 | 代理人: | 何淑珍;江裕強(qiáng) |
| 地址: | 510640 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光子晶體 半導(dǎo)體材料 制備 倒裝結(jié)構(gòu) 發(fā)光單元 工藝流程 電極 刻蝕 介質(zhì)絕緣層 金屬反射鏡 金屬連接線 絕緣層隔離 歐姆接觸層 電極焊盤 光子模式 膠掩膜層 介質(zhì)掩膜 金屬電極 條狀介質(zhì) 芯片表面 直接覆蓋 周期分布 負(fù)電極 平坦化 上表面 源區(qū)域 正電極 并聯(lián) 逸出 源層 沉積 隔離 | ||
本發(fā)明公開了倒裝結(jié)構(gòu)微尺寸光子晶體LED陣列芯片及其制備方法。本發(fā)明的LED陣列芯片,四個(gè)發(fā)光單元并聯(lián),正電極金屬連接線與半導(dǎo)體材料之間由介質(zhì)絕緣層隔離,負(fù)電極直接覆蓋在半導(dǎo)體材料上表面;發(fā)光單元的有源區(qū)域具有周期分布的光子晶體,光子晶體的深度超過有源層的深度;除電極焊盤外,整個(gè)芯片表面都分布有介質(zhì)DBR;金屬電極構(gòu)成金屬反射鏡。本發(fā)明的制備方法,采用先制備歐姆接觸層和電極、后刻蝕光子晶體的方案,無需平坦化等傳統(tǒng)工藝流程;采用較厚的條狀介質(zhì)絕緣層隔離電極與半導(dǎo)體材料,較薄的介質(zhì)掩膜層與膠掩膜層共同刻蝕的方案,有利于DBR的沉積以及光子模式的快速逸出;本發(fā)明的工藝流程簡(jiǎn)單、可靠。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光子晶體LED芯片領(lǐng)域,具體涉及一種倒裝結(jié)構(gòu)微尺寸光子晶體LED陣列芯片及其制備方法。
背景技術(shù)
可見光通信兼顧照明和通信兩種功能,成為LED(發(fā)光二極管)在超越照明領(lǐng)域的一個(gè)重要突破點(diǎn)。在可見光通信中,發(fā)光器件的調(diào)制帶寬是影響通信容量的重要因素。LED的調(diào)制帶寬主要受RC常數(shù)和載流子復(fù)合速率的影響。為了降低RC常數(shù)以提升RC帶寬,可采用微尺寸芯片;為了提高載流子復(fù)合速率以提升載流子限制帶寬,可采用諧振腔、表面等離激元和光子晶體技術(shù)。
微尺寸芯片既具有較小的電容,又具有較高的飽和電流密度,可有效地提高調(diào)制帶寬。但是,單個(gè)的微尺寸LED的有源區(qū)面積較小,輸出光功率較小,信噪比較差,不利于可見光通信。
光子晶體LED通過禁帶效應(yīng)增強(qiáng)中心波長的光子局域態(tài)密度,提高載流子復(fù)合速率從而提升載流子限制帶寬。光子晶體的制備一般采用“制備光子晶體à表面平坦化à干法刻蝕暴露半導(dǎo)體材料à制備歐姆接觸層à制備電極”的工藝流程。這個(gè)工藝流程引入了三個(gè)技術(shù)難點(diǎn)。難點(diǎn)1是表面平坦化:在具有光子晶體的LED外延片上旋涂SOG(勻膠玻璃)或BCB等填充材料使得外延片表面平坦化,由于填充材料是液態(tài),旋轉(zhuǎn)涂敷后容易沿著圖案化的外延片表面上下起伏,因此較難實(shí)現(xiàn)平坦化。難點(diǎn)2是干法刻蝕暴露半導(dǎo)體材料:填充材料分布在光子晶體的表面,以及光子晶體之間的空隙,在進(jìn)行干法刻蝕時(shí),既要使得光子晶體表面的填充材料完全被去除,又要盡量使得光子晶體之間的空隙中的填充材料與半導(dǎo)體材料表面齊平,因此需要精細(xì)的控制。難點(diǎn)3是制備歐姆接觸層:在光子晶體的表面制備歐姆接觸層時(shí),歐姆接觸層與半導(dǎo)體材料的接觸面積較小,因此歐姆接觸性能較差。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,為解決上述現(xiàn)有技術(shù)中的問題,本發(fā)明提供了一種倒裝結(jié)構(gòu)微尺寸光子晶體LED陣列芯片及其制備方法,該芯片由四個(gè)發(fā)光單元并聯(lián)而成,發(fā)光單元的有源區(qū)域具有光子晶體,芯片表面制備介質(zhì)DBR(分布布拉格反射鏡)和金屬反射鏡形成倒裝結(jié)構(gòu)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案如下。
一種倒裝結(jié)構(gòu)微尺寸光子晶體LED陣列芯片,包括四個(gè)發(fā)光單元、正電極焊盤和負(fù)電極焊盤,所述正電極焊盤和負(fù)電極焊盤分布在發(fā)光單元的兩側(cè),所述四個(gè)發(fā)光單元中相鄰發(fā)光單元的正電極通過金屬連接線依次并聯(lián)連接,其中一端并與正電極焊盤連接,呈2× 2陣列分布,所述發(fā)光單元的負(fù)電極與負(fù)電極焊盤連接在一起;從金屬電極至光出射方向,所述發(fā)光單元的有源區(qū)域依次包括介質(zhì)DBR、透明電流擴(kuò)展層、P型摻雜GaN層、P型摻雜AlGaN層、量子阱層、N型摻雜GaN層、非故意摻雜GaN層、GaN緩沖層和寶石襯底;
所述發(fā)光單元的正電極區(qū)域依次包括介質(zhì)DBR、正電極、透明電流擴(kuò)展層、P型摻雜GaN層、P型摻雜AlGaN層、量子阱層、N型摻雜GaN層、非故意摻雜GaN層、GaN緩沖層和藍(lán)寶石襯底;
所述發(fā)光單元的負(fù)電極區(qū)域依次包括介質(zhì)DBR、負(fù)電極、N型摻雜GaN層、非故意摻雜GaN層、GaN緩沖層、以及藍(lán)寶石襯底。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





