[發明專利]半導體裝置分揀系統及半導體裝置

在審

• 申請號: 201811152212.6
• 申請日: 2018-09-29
• 公開（公告）號: CN109604191A
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發明（設計）人: 橫山脩平;長谷川真紀;中村宏之;森茂;巖上徹
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/34
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 何立波;張天舒

1.一種半導體裝置分揀系統，其具有：

特性測定部，其對半導體裝置的電氣特性進行測定；

等級判別數據庫，其用于將所述電氣特性分類成等級；

運算部，其將由所述特性測定部測定出的所述半導體裝置的多個所述電氣特性參照所述等級判別數據庫分別分類成多個等級；

寫入部，其將由所述運算部分類出的多個等級變換成圖形或符號代碼，將該圖形或符號代碼形成于所述半導體裝置；

讀取部，其從形成于所述半導體裝置的所述圖形或符號代碼讀取多個等級；以及

分揀部，其基于由所述讀取部讀取到的多個等級而對所述半導體裝置進行分揀。

2.根據權利要求1所述的半導體裝置分揀系統，其中，

還具有要求特性輸入部，該要求特性輸入部被輸入半導體裝置使用者所要求的要求特性，

所述運算部將從所述要求特性輸入部輸入的所述要求特性參照所述等級判別數據庫而分類成等級，

所述分揀部進一步基于所述要求特性的等級對所述半導體裝置進行分揀。

3.根據權利要求2所述的半導體裝置分揀系統，其中，

所述讀取部及所述分揀部配置于所述半導體裝置使用者側。

4.根據權利要求1所述的半導體裝置分揀系統，其中，

所述運算部針對各所述電氣特性的每個等級對所述半導體裝置的庫存數進行記錄。

5.根據權利要求3所述的半導體裝置分揀系統，其中，

所述寫入部將分別對多個所述電氣特性進行分類而得到的多個等級印刷至所述半導體裝置。

6.一種半導體裝置，其具有表示多個等級的圖形或符號代碼，該多個等級是分別將自身的多個電氣特性進行分類而得到的。