[發明專利]MDT測量方法、設備及系統有效
| 申請號： | 201811151714.7 | 申請日： | 2018-09-29 |
| 公開（公告）號： | CN110972181B | 公開（公告）日： | 2021-09-07 |
| 發明（設計）人： | 胡星星;張宏平;曾清海 | 申請（專利權）人： | 華為技術有限公司 |
| 主分類號： | H04W24/08 | 分類號： | H04W24/08;H04W24/10;H04B17/309 |
| 代理公司： | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人： | 劉巖 |
| 地址： | 518129 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | mdt 測量方法 設備 系統 | ||
1.一種最小化路測MDT測量方法，其特征在于，所述方法包括：
第一實體確定第一配置信息，所述第一配置信息用于網絡設備的集中單元用戶面CU-UP實體對第一測量對象進行MDT測量；
所述第一實體向所述CU-UP實體發送所述第一配置信息；
所述第一實體確定第二配置信息，所述第二配置信息用于所述網絡設備的分布單元DU實體對第二測量對象進行MDT測量；
所述第一實體向所述DU實體發送所述第二配置信息。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一配置信息包括以下一項或多項：所述第一測量對象、所述第一測量對象的粒度、第一統計周期、或第一測量收集結果的反饋方式。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
所述第一實體接收來自所述CU-UP實體的基于所述第一配置信息的第一測量收集結果。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二配置信息包括以下一項或多項：所述第二測量對象、所述第二測量對象的粒度、第二統計周期、或第二測量收集結果的反饋方式。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
所述第一實體接收來自所述DU的基于所述第二配置信息的第二測量收集結果。
6.根據權利要求1-5任一項所述的方法，其特征在于，所述第一實體為所述網絡設備的集中單元控制面CU-CP實體；所述方法還包括：
所述CU-CP實體發送第三配置信息，所述第三配置信息用于終端設備對第三測量對象進行MDT測量；
所述CU-CP實體接收來自所述終端設備的基于所述第三配置信息的第三測量收集結果。
7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一實體為所述網絡設備的集中單元控制面CU-CP實體；所述方法還包括：
所述CU-CP實體發送第三配置信息，所述第三配置信息用于終端設備對第三測量對象進行MDT測量；
所述CU-CP實體接收來自所述終端設備的基于所述第三配置信息的第三測量收集結果；
所述CU-CP實體向所述CU-UP實體發送所述第三測量收集結果。
8.根據權利要求1-5任一項所述的方法，其特征在于，所述第一實體為MDT實體；所述方法還包括：
所述MDT實體確定第三配置信息，所述第三配置信息用于終端設備對第三測量對象進行MDT測量；
所述MDT實體通過所述CU-CP實體向所述終端設備發送所述第三配置信息。
9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
所述MDT實體接收所述終端設備基于所述第三配置信息的第三測量收集結果。
10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，所述第三配置信息包括以下一項或多項：所述第三測量對象、所述第三測量對象的粒度、第三統計周期、或所述第三測量收集結果的反饋方式中。
11.一種通信裝置，其特征在于，所述通信裝置包括：處理模塊和收發模塊；
所述處理模塊，用于確定第一配置信息，所述第一配置信息用于網絡設備的集中單元用戶面CU-UP實體對第一測量對象進行MDT測量；
所述收發模塊，用于向所述CU-UP實體發送所述第一配置信息；
所述處理模塊，還用于確定第二配置信息，所述第二配置信息用于所述網絡設備的分布單元DU實體對第二測量對象進行MDT測量；
所述收發模塊，還用于向所述DU實體發送所述第二配置信息。
12.根據權利要求11所述通信裝置，其特征在于，所述通信裝置用于實現權利要求1至10任一項所述的方法。
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