[發明專利]接口測試參數分析方法、裝置、電子裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 201811151640.7
• 申請日: 2018-09-29
• 公開（公告）號: CN109522210A
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發明（設計）人: 何新榮
• 申請（專利權）人: 中國平安人壽保險股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 楊毅玲

1.一種接口測試參數分析方法，其特征在于，包括：

接收至少一待測試接口的接口文檔以供指定人員根據所述接口文檔錄入接口測試參數；

接收所述指定人員錄入的接口測試參數集；

對所述接口測試參數集進行一級拆分以獲得相互獨立的多個接口測試參數；

對每一接口測試參數進行二級拆分以獲得每一所述接口測試參數的測試名和測試值；以及

將每一接口測試參數的測試名和測試值添加至一接口測試參數表單的指定位置。

2.如權利要求1所述的接口測試參數分析方法，其特征在于，所述多個接口測試參數集為多個接口測試參數通過第一預設連接符連接，對所述接口測試參數集進行一級拆分包括：

識別所述接口測試參數集中的所述第一預設連接符；以及

提取通過所述第一預設連接符連接的接口測試參數，從而獲得所述接口測試參數。

3.如權利要求1所述的接口測試參數分析方法，其特征在于，所述接口文檔包括待測試接口說明的定義信息，所述定義信息包括所述待測試接口的指定參數類型以及對應的指定參數范圍，在獲得相互獨立的多個接口測試參數后，所述接口測試參數分析方法還包括：

判斷所述接口測試參數集是否符合所述指定參數類型以及指定參數范圍；以及

當判斷所述接口測試參數不符合所述指定參數類型以及指定參數范圍中的至少一個時，輸出一提示信息。

4.如權利要求1所述的接口測試參數分析方法，其特征在于，每一接口測試參數包括的測試名與測試值以鍵值對的形式表示，所述測試名與測試值之間以第二預設連接符進行間隔，所述對每一接口測試參數進行二級拆分以獲得每一所述接口測試參數的測試名和測試值包括：

通過識別所述鍵值對的第二預設連接符來提取并獲得每一所述接口測試參數所包含的測試名和測試值。

5.如權利要求1所述的接口測試參數分析方法，其特征在于，在將每一接口測試參數的測試名和測試值添加至所述接口測試參數表單之前，還包括：

判斷所述接口測試參數的測試名和測試值是否與所述接口測試參數表單中的任一接口測試參數的測試名和測試值均重復；

當判斷與一接口測試參數的測試名和測試值均重復時，停止將所述接口測試參數的測試名和測試值添加至所述接口測試參數表單中；以及

存儲更新后的所述接口測試參數表單。

6.如權利要求1所述的接口測試參數分析方法，其特征在于，還包括：

根據所述接口測試參數表單生成測試用例，所述測試用例用于對所述待測試接口進行測試。

7.如權利要求6所述的接口測試參數分析方法，其特征在于，在生成所述測試用例后，還包括：

將所述測試用例傳輸至一預設目錄下存儲；

在接收到一測試指令時，執行所存儲的所述測試用例以對待測試接口進行測試。

8.一種接口測試參數分析裝置，其特征在于，包括：

接收模塊，用于接收所述至少一待測試接口的接口文檔以供指定人員根據所述接口文檔錄入接口測試參數，還用于接收所述指定人員錄入的接口測試參數集；

一級拆分模塊，用于對所述接口測試參數集進行一級拆分以獲得相互獨立的多個接口測試參數；

二級拆分模塊，用于對每一接口測試參數進行二級拆分以獲得所述接口測試參數的測試名和測試值；以及

執行模塊，用于將每一接口測試參數的測試名和測試值添加至一接口測試參數表單的指定位置。

9.一種電子裝置，其特征在于，包括處理器和存儲器，所述存儲器中存儲有接口測試參數分析程序，所述處理器用于執行所述接口測試參數分析程序以實現如權利要求1至7中任意一項所述的接口測試參數分析方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有接口測試參數分析程序，所述接口測試參數分析程序被處理器執行時實現如權利要求1-7中任一項的所述接口測試參數分析方法。