[發明專利]一種利用試驗數據確定大氣中子單粒子效應截面的方法在審
| 申請號： | 201811148573.3 | 申請日： | 2018-09-29 |
| 公開（公告）號： | CN109470947A | 公開（公告）日： | 2019-03-15 |
| 發明（設計）人： | 薛玉雄;安恒;楊生勝;王小軍;張晨光;苗育君;王光毅 | 申請（專利權）人： | 蘭州空間技術物理研究所 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京理工大學專利中心 11120 | 代理人： | 溫子云;仇蕾安 |
| 地址： | 730000 甘*** | 國省代碼： | 甘肅;62 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 單粒子效應 試驗數據 觀測 修正因子 地面模擬試驗 機載電子設備 修正 輻射源輻射 中子輻射源 標準指定 輻射模擬 個數計算 精度因子 敏感器件 中子輻射 輻射源 構建 自然環境 測量 防護 輻射 | ||
【權利要求書】：
1.一種利用試驗數據確定大氣中子單粒子效應截面的方法，其特征在于，包括：
步驟一、在地面模擬試驗輻射源的輻射下，獲得單粒子效應截面的觀測值σ觀測，并監測單粒子效應錯誤個數N0；
步驟二、在JESD89A標準指定的實驗室中子輻射源的輻射下，獲得單粒子效應截面觀測值σJ；
步驟三、將σ觀測與σJ的比值作為輔助因子B，以輔助因子B、單粒子效應錯誤個數N0和單粒子效應截面的測量精度因子a構建單粒子效應錯誤個數計算修正因子A；
步驟四、利用單粒子效應錯誤個數計算修正因子A，對在預定輻射源下的單粒子效應截面觀測值σ觀測進行修正，得到大氣中子單粒子效應敏感器件的截面σ。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟三所構建的單粒子效應錯誤個數計算修正因子A的表達式為：
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述精度因子a為1.96。
4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述地面模擬試驗輻射源采用14MeV能量的中子輻射源。
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